特征评估方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010642000.7

申请日：

2020-07-06

公开(公告)号：

CN113902952A

公开(公告)日：

2022-01-07

发明(设计)人：

孙承根车天文贺文强李云松黄柏翔

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地西路6号1幢1层101D1-7

IPC主分类号：

G06V10774

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

孟金喆

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-25	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06V 10/774 申请日:20200706
2022-01-07	公开	公开

共 50 条

[1]

特征评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙承根 ;

车天文 ;

贺文强 ;

李云松 ;

黄柏翔 .

中国专利 :CN113902952B ,2024-09-20

[2]

点迹特征评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张腾 ;

王良军 ;

岳锟 .

中国专利 :CN118465707A ,2024-08-09

[3]

一种特征质量评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李小聪 ;

魏龙 ;

王召玺 ;

王峰 .

中国专利 :CN112528159B ,2024-03-26

[4]

特征筛选方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

郑铭鑫 ;

曹延泽 ;

刘长虹 ;

韩宇 ;

陆可 ;

孙海伦 ;

吴迪 ;

李博文 .

中国专利 :CN114429815A ,2022-05-03

[5]

特征选择方法、装置、电子设备、及存储介质 [P].

梁彧 ;

郑祥波 ;

金红 ;

杨满智 ;

刘长永 ;

陈晓光 .

中国专利 :CN110175644A ,2019-08-27

[6]

特征预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王迪 ;

肖伟集 ;

朱旭律 ;

杨杰 .

中国专利 :CN111401940A ,2020-07-10

[7]

特征筛选方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

郑铭鑫 ;

曹延泽 ;

刘长虹 ;

韩宇 ;

陆可 ;

孙海伦 ;

吴迪 ;

李博文 .

中国专利 :CN114429815B ,2025-04-08

[8]

一种特征质量评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李小聪 ;

魏龙 ;

王召玺 ;

王峰 .

中国专利 :CN112528159A ,2021-03-19

[9]

特征评估方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

赵科科 .

中国专利 :CN117332241A ,2024-01-02

[10]

特征处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

席梓添 ;

应舟丹 ;

王琴文 ;

罗阳 .

中国专利 :CN119476528A ,2025-02-18

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