通用测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410153404.4

申请日：

2014-04-17

公开(公告)号：

CN105021848B

公开(公告)日：

2015-11-04

发明(设计)人：

高合助李冠兴

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区集成电路产业区张东路1558号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

上海音科专利商标代理有限公司 31267

代理人：

张成新

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-02	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101635126525 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2014101534044 申请日:20140417
2015-11-04	公开	公开
2018-06-19	授权	授权

共 50 条

[1]

通用测试装置以及测试系统 [P].

高艳华 ;

张立博 ;

王祥林 .

中国专利 :CN206378278U ,2017-08-04

[2]

铂电阻通用测试装置 [P].

何丹 ;

张建宏 ;

刘俊峰 ;

徐卫东 ;

贺颖颖 ;

龚恒 ;

张岩涛 .

中国专利 :CN212513409U ,2021-02-09

[3]

电气盒通用测试装置 [P].

孙德伟 .

中国专利 :CN202453432U ,2012-09-26

[4]

通用测试装置及方法 [P].

陈正文 ;

魏海山 ;

朱武 ;

李彦涌 ;

杨乐乐 ;

欧阳柳 ;

唐威 ;

马龙昌 ;

孙康康 ;

王晓年 .

中国专利 :CN111435143A ,2020-07-21

[5]

超声电机通用测试装置 [P].

杨明 ;

陈许英 .

中国专利 :CN100593698C ,2008-09-17

[6]

LCM模组通用测试装置 [P].

林萌 ;

邵嘉 ;

黄宇同 ;

严青山 .

中国专利 :CN202230715U ,2012-05-23

[7]

U盘通用测试装置 [P].

方盼 .

中国专利 :CN202930050U ,2013-05-08

[8]

电源老化通用测试装置 [P].

罗成 .

中国专利 :CN205263280U ,2016-05-25

[9]

LED显示模组通用测试装置 [P].

孙兴红 ;

李选中 ;

黄永忠 ;

王启权 ;

吴涵渠 .

中国专利 :CN202838905U ,2013-03-27

[10]

光电器件通用测试装置 [P].

张岩涛 ;

陈章涛 ;

张建宏 ;

何丹 ;

龚恒 ;

孔令楠 .

中国专利 :CN217901941U ,2022-11-25

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