一种MoCA设备性能测试方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911397651.8

申请日：

2019-12-30

公开(公告)号：

CN111181810B

公开(公告)日：

2020-05-19

发明(设计)人：

王宝珍姚毅

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区城北路1355号D楼2、3层

IPC主分类号：

H04L430811

IPC分类号：

H04L430817 H04L4350

代理机构：

北京弘权知识产权代理有限公司 11363

代理人：

逯长明;许伟群

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 12/26 申请日:20191230
2022-09-06	授权	授权
2020-05-19	公开	公开

共 50 条

[1]

一种设备性能测试方法及装置 [P].

王颢 .

中国专利 :CN104022921A ,2014-09-03

[2]

一种语音性能测试方法及系统 [P].

周又亮 ;

丁帆 ;

陈斌 ;

梁瑞宇 .

中国专利 :CN114245281B ,2024-03-19

[3]

一种语音性能测试方法及系统 [P].

周又亮 ;

丁帆 ;

陈斌 ;

梁瑞宇 .

中国专利 :CN114245281A ,2022-03-25

[4]

电器性能测试方法、装置、设备及系统 [P].

孟凡胜 ;

黄振兴 ;

许升 .

中国专利 :CN114764109A ,2022-07-19

[5]

HMD设备的性能测试方法及系统 [P].

傅蓉蓉 ;

孙振芳 ;

何玉斌 ;

董千洲 ;

王广忠 ;

顾琛晖 ;

刘毓炜 ;

朵灏 .

中国专利 :CN117760693A ,2024-03-26

[6]

一种设备存储性能测试方法、系统及相关装置 [P].

陈雪 .

中国专利 :CN112269697B ,2021-01-26

[7]

一种性能测试方法及装置 [P].

董佃超 .

中国专利 :CN115811756B ,2025-10-03

[8]

一种高性能ADC/DAC性能测试方法及系统 [P].

段尚琪 ;

向映宇 ;

袁峻 ;

胡昌斌 ;

关又综 ;

王家云 ;

张栋辉 ;

宋庆 .

中国专利 :CN117767945A ,2024-03-26

[9]

电池性能测试方法、测试终端、可读存储介质及测试系统 [P].

张楚明 ;

苏壮志 ;

陈邦政 .

中国专利 :CN107621607B ,2018-01-23

[10]

设备性能测试方法及装置 [P].

唐华斌 ;

马轶慧 ;

高从文 .

中国专利 :CN106649060A ,2017-05-10

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