基于低秩稀疏矩阵分解的纺织品瑕疵检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010678742.5

申请日：

2020-07-15

公开(公告)号：

CN111862027A

公开(公告)日：

2020-10-30

发明(设计)人：

梁久祯纪旋魏敬晨周明智张英丽

申请人：

申请人地址：

213164 江苏省常州市武进区滆湖路1号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T7136 G06K946 G06K962

代理机构：

常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙) 32258

代理人：

张云

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20200715
2020-10-30	公开	公开

共 50 条

[1]

基于低秩稀疏矩阵分解的纺织品瑕疵检测方法 [P].

梁久祯 ;

纪旋 ;

魏敬晨 ;

周明智 ;

张英丽 .

中国专利 :CN111862027B ,2024-02-20

[2]

基于低秩矩阵重构和广义卷积的纺织品瑕疵检测方法 [P].

张文超 ;

侍伯山 ;

梁久祯 .

中国专利 :CN113269777A ,2021-08-17

[3]

基于模板的纺织品瑕疵检测方法 [P].

常兴治 ;

胡丽英 ;

刘威 ;

王国伟 ;

朱川 ;

黄圣超 .

中国专利 :CN107966444A ,2018-04-27

[4]

基于模板特征的纺织品瑕疵检测方法 [P].

梁久祯 ;

顾程熙 .

中国专利 :CN107895363A ,2018-04-10

[5]

基于局部最优分析的纺织品瑕疵检测方法 [P].

常兴治 ;

胡丽英 ;

刘威 ;

王国伟 ;

朱川 ;

黄圣超 .

中国专利 :CN107977954A ,2018-05-01

[6]

一种纺织品瑕疵检测装置及纺织品瑕疵检测方法 [P].

周健 ;

张青青 ;

周掌根 .

中国专利 :CN120847142B ,2025-11-25

[7]

一种纺织品瑕疵检测装置及纺织品瑕疵检测方法 [P].

周健 ;

张青青 ;

周掌根 .

中国专利 :CN120847142A ,2025-10-28

[8]

基于瑕疵先验与全变差正则项的低秩分解的织物检测方法 [P].

梁久祯 ;

鲍向阳 .

中国专利 :CN114782401A ,2022-07-22

[9]

一种纺织品瑕疵检测平台 [P].

张丰贤 ;

杨海强 ;

王大园 ;

李斌芳 .

中国专利 :CN220795075U ,2024-04-16

[10]

一种基于图元分解和各向异性矫正的纺织品瑕疵检测方法 [P].

梁久祯 ;

刘威 .

中国专利 :CN109636775A ,2019-04-16

← 1 2 3 4 5 →