基于多光谱图像滤波输出统计分布规律的目标检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201110183192.0
申请日
2011-07-01
公开(公告)号
CN102222221A
公开(公告)日
2011-10-19
发明(设计)人
崔金辉 李立 张洪伟
申请人
申请人地址
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
IPC主分类号
G06K900
IPC分类号
G06K936
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于条纹图像统计分布规律的镜面物体表面缺陷检测方法 [P]. 
周果清 ;
金日强 ;
申世东 ;
杨玺璇 ;
王立东 ;
王雪 ;
王庆 .
中国专利 :CN115656177B ,2024-09-17
[2]
基于条纹图像统计分布规律的镜面物体表面缺陷检测方法 [P]. 
周果清 ;
金日强 ;
申世东 ;
杨玺璇 ;
王立东 ;
王雪 ;
王庆 .
中国专利 :CN115656177A ,2023-01-31
[3]
一种基于K统计分布模型背景的目标检测方法 [P]. 
徐达 ;
罗海力 ;
郝程鹏 ;
刘明刚 ;
李娜 ;
施博 ;
闫晟 ;
宿晓静 ;
朱东升 .
中国专利 :CN109696662A ,2019-04-30
[4]
一种基于统计分布的卫星多光谱图像波段配准方法 [P]. 
吕江安 ;
郝雪涛 ;
孙业超 .
中国专利 :CN103218811B ,2013-07-24
[5]
一种基于张量光谱匹配滤波的高光谱图像目标检测方法 [P]. 
谷延锋 ;
刘永健 .
中国专利 :CN107038436A ,2017-08-11
[6]
基于多光谱图像的目标表面缺陷检测方法及装置 [P]. 
张驰 ;
贾雪莹 ;
王庆艳 ;
黄文倩 ;
田喜 ;
何鑫 .
中国专利 :CN117952909A ,2024-04-30
[7]
一种基于高阶统计量的高光谱图像目标检测方法 [P]. 
史振威 ;
杨硕 ;
姜志国 ;
赵卫 ;
王扬 .
中国专利 :CN101807301B ,2010-08-18
[8]
基于张量学习的高光谱图像目标检测方法 [P]. 
雷杰 ;
吉轲 ;
谢卫莹 ;
张鑫 ;
李云松 .
中国专利 :CN115131661A ,2022-09-30
[9]
基于张量学习的高光谱图像目标检测方法 [P]. 
雷杰 ;
吉轲 ;
谢卫莹 ;
张鑫 ;
李云松 .
中国专利 :CN115131661B ,2024-09-24
[10]
基于多源图像的融合目标检测方法 [P]. 
白双豪 ;
余意 ;
冷洪泽 ;
李少鹏 ;
赵延来 ;
罗藤灵 ;
曹小群 ;
王喆 ;
王尊 .
中国专利 :CN118674917A ,2024-09-20