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光电对射式纵跳测试仪
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN200320124734.8
申请日：
2003-12-01
公开(公告)号：
CN2673463Y
公开(公告)日：
2005-01-26
发明(设计)人：
韩洪波
张钊
申请人：
申请人地址：
100083北京市海淀区学院路37号柏彦大厦1103－1108室
IPC主分类号：
A63B7106
IPC分类号：
代理机构：
北京中博世达知识产权代理事务所
代理人：
申海庆
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2005-01-26 | 授权 | 授权 |
| 2014-01-22 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101564733948 IPC(主分类):A63B 71/06 专利号:ZL2003201247348 申请日:20031201 授权公告日:20050126 终止日期:20121201 |