滤波片缺陷检测系统及其检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510852687.6

申请日：

2015-11-30

公开(公告)号：

CN106814083B

公开(公告)日：

2017-06-09

发明(设计)人：

诸庆谷新

申请人：

申请人地址：

315400 浙江省宁波市余姚市舜宇路66-68号

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

代理机构：

宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33244

代理人：

罗京;孟湘明

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-10	授权	授权
2017-07-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101731397846 IPC(主分类):G01N 21/95 专利申请号:2015108526876 申请日:20151130
2017-06-09	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测系统及其缺陷检测方法 [P].

黄高 ;

刘昌江 ;

田茂 ;

宋闯 .

中国专利 :CN110243840A ,2019-09-17

[2]

夹层缺陷检测系统及其检测方法 [P].

宣崇伟 ;

廖广富 ;

周婷 .

中国专利 :CN117434077A ,2024-01-23

[3]

光伏电池片缺陷检测方法和缺陷检测系统 [P].

马凯 .

中国专利 :CN120931657A ,2025-11-11

[4]

显示缺陷检测装置及其检测方法、显示缺陷检测系统 [P].

周乔珂 ;

李博 ;

王晶 ;

李响 ;

曲国健 ;

王伯长 ;

赵锬鸿 ;

郭晖 .

中国专利 :CN113218962A ,2021-08-06

[5]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

梅红伟 ;

涂彦昕 ;

胡伟 ;

刘健犇 ;

刘立帅 ;

王黎明 .

中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19

[6]

缺陷检测方法、缺陷检测系统和缺陷检测程序 [P].

辻本翔悟 .

日本专利 :CN118202383A ,2024-06-14

[7]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

张勤 ;

付翔宇 ;

李国军 .

中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30

[8]

一种缺陷检测系统及其缺陷检测方法 [P].

朱宇轩 ;

张长水 ;

曹沿松 ;

陈龙 .

中国专利 :CN118688119A ,2024-09-24

[9]

缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

孟阳 ;

王伟斌 .

中国专利 :CN112444526A ,2021-03-05

[10]

缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

中野拓巳 .

中国专利 :CN103635169A ,2014-03-12

← 1 2 3 4 5 →