瓷砖铺贴质量检测方法、检测设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011228420.7
申请日
2020-11-05
公开(公告)号
CN112348795A
公开(公告)日
2021-02-09
发明(设计)人
吴涵 吴兴华
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区香蜜湖街道侨香三道鸿运阁办公楼603-605
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
张小容
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
瓷砖铺贴质量检测方法、检测设备及存储介质 [P]. 
吴涵 ;
吴兴华 .
中国专利 :CN112348795B ,2024-08-02
[2]
质量检测方法、质量检测设备及存储介质 [P]. 
刘云聪 ;
戴上勇 ;
文志威 .
中国专利 :CN119085812A ,2024-12-06
[3]
数据质量检测方法、装置及存储介质 [P]. 
袁泉 .
中国专利 :CN109656812A ,2019-04-19
[4]
画面质量检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
黄超 ;
梅维一 ;
周洪斌 ;
严明 .
中国专利 :CN114418972B ,2024-09-10
[5]
画面质量检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
黄超 ;
梅维一 ;
周洪斌 ;
严明 .
中国专利 :CN114418972A ,2022-04-29
[6]
图像质量检测方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘岩 .
中国专利 :CN110827261B ,2020-02-21
[7]
质量检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张隽华 ;
黄雷 .
中国专利 :CN113379734A ,2021-09-10
[8]
质量检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张隽华 ;
黄雷 .
中国专利 :CN113379734B ,2024-10-15
[9]
图像质量检测方法、检测设备和存储介质 [P]. 
石小威 ;
于越 ;
付煜 .
中国专利 :CN111915550A ,2020-11-10
[10]
图像质量检测方法、检测设备和存储介质 [P]. 
石小威 ;
于越 ;
付煜 .
中国专利 :CN111915550B ,2024-03-29