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测试治具

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020695617.0
申请日：
2020-04-29
公开(公告)号：
CN213240210U
公开(公告)日：
2021-05-18
发明(设计)人：
谢容健
申请人：
申请人地址：
518100 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区华荣路联建工业园厂房2号4层
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R1073
代理机构：
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
李辉
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-05-18 授权 授权
共 50 条
[1]
测试治具 [P]. 
赵铭 .
中国专利 :CN201955361U ,2011-08-31
[2]
测试治具 [P]. 
黄海清 ;
李耀民 ;
王少飞 .
中国专利 :CN223166840U ,2025-07-29
[3]
测试治具 [P]. 
何正鸿 ;
宋祥祎 ;
邹浩林 ;
陈泽 .
中国专利 :CN222561731U ,2025-03-04
[4]
测试治具 [P]. 
郭红建 .
中国专利 :CN207396672U ,2018-05-22
[5]
FPCB测试治具 [P]. 
陈国栋 .
中国专利 :CN202649253U ,2013-01-02
[6]
MMI测试治具 [P]. 
汪犟 .
中国专利 :CN209014606U ,2019-06-21
[7]
内阻测试治具 [P]. 
张涵 ;
赵文杰 .
中国专利 :CN221595216U ,2024-08-23
[8]
电池测试治具 [P]. 
刘厚德 ;
张三虎 ;
谭金来 ;
张茂 ;
陈喻斯 .
中国专利 :CN205982581U ,2017-02-22
[9]
FPC测试治具 [P]. 
李世林 ;
梁锦星 ;
朱嘉华 .
中国专利 :CN218455739U ,2023-02-07
[10]
芯片测试治具 [P]. 
杨建 ;
刘志维 ;
汪迪 ;
张先俊 .
中国专利 :CN220752138U ,2024-04-09
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