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自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811351702.9
申请日
:
2018-11-14
公开(公告)号
:
CN109614319B
公开(公告)日
:
2019-04-12
发明(设计)人
:
宋光
李刚
申请人
:
申请人地址
:
中国香港铜锣湾希慎道33号利园一期19楼1907室
IPC主分类号
:
G06F1136
IPC分类号
:
代理机构
:
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
:
郑特强;章侃铱
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-13
授权
授权
2019-05-07
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20181114
2019-04-12
公开
公开
共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质
[P].
陈亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈亮
.
中国专利
:CN109460363B
,2019-03-12
[2]
自动化测试方法及装置、计算机可读存储介质、电子设备
[P].
刘伟
论文数:
0
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0
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刘伟
.
中国专利
:CN111143226A
,2020-05-12
[3]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质
[P].
宋光
论文数:
0
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0
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宋光
.
中国专利
:CN109614318A
,2019-04-12
[4]
自动化测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质
[P].
汪辰
论文数:
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汪辰
;
张树迁
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张树迁
.
中国专利
:CN115080418A
,2022-09-20
[5]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
[P].
尚忠阳
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尚忠阳
;
魏广源
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魏广源
;
高蕊
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高蕊
;
冷炜
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冷炜
.
中国专利
:CN112465004A
,2021-03-09
[6]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
[P].
赵磊
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赵磊
;
冯长达
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冯长达
;
刘光宇
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刘光宇
;
吴志刚
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吴志刚
.
中国专利
:CN111159029A
,2020-05-15
[7]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
[P].
孙琦
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孙琦
.
中国专利
:CN110955603A
,2020-04-03
[8]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
[P].
李鸣
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李鸣
;
肖云
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肖云
;
官世良
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官世良
;
寇立青
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寇立青
;
马春宇
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马春宇
.
中国专利
:CN114185808A
,2022-03-15
[9]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
[P].
高猛
论文数:
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机构:
深圳TCL数字技术有限公司
深圳TCL数字技术有限公司
高猛
.
中国专利
:CN120610888A
,2025-09-09
[10]
自动化测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质
[P].
岑俊伟
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岑俊伟
;
张翔
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张翔
;
沙冥冥
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沙冥冥
;
桂永红
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桂永红
;
马剑
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马剑
;
凌飞
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凌飞
.
中国专利
:CN113760724A
,2021-12-07
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