自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811351702.9
申请日
2018-11-14
公开(公告)号
CN109614319B
公开(公告)日
2019-04-12
发明(设计)人
宋光 李刚
申请人
申请人地址
中国香港铜锣湾希慎道33号利园一期19楼1907室
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
郑特强;章侃铱
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P]. 
陈亮 .
中国专利 :CN109460363B ,2019-03-12
[2]
自动化测试方法及装置、计算机可读存储介质、电子设备 [P]. 
刘伟 .
中国专利 :CN111143226A ,2020-05-12
[3]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P]. 
宋光 .
中国专利 :CN109614318A ,2019-04-12
[4]
自动化测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
汪辰 ;
张树迁 .
中国专利 :CN115080418A ,2022-09-20
[5]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
尚忠阳 ;
魏广源 ;
高蕊 ;
冷炜 .
中国专利 :CN112465004A ,2021-03-09
[6]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
赵磊 ;
冯长达 ;
刘光宇 ;
吴志刚 .
中国专利 :CN111159029A ,2020-05-15
[7]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
孙琦 .
中国专利 :CN110955603A ,2020-04-03
[8]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
李鸣 ;
肖云 ;
官世良 ;
寇立青 ;
马春宇 .
中国专利 :CN114185808A ,2022-03-15
[9]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
高猛 .
中国专利 :CN120610888A ,2025-09-09
[10]
自动化测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
岑俊伟 ;
张翔 ;
沙冥冥 ;
桂永红 ;
马剑 ;
凌飞 .
中国专利 :CN113760724A ,2021-12-07