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测量设备及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910108786.1
申请日
:
2019-02-03
公开(公告)号
:
CN111521871A
公开(公告)日
:
2020-08-11
发明(设计)人
:
林伟然
贝尼迪库斯·本雅明
申请人
:
申请人地址
:
德国慕尼黑
IPC主分类号
:
G01R2316
IPC分类号
:
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
郭雪茹
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-18
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 23/16 申请日:20190203
2020-08-11
公开
公开
共 50 条
[1]
测量设备及测量方法
[P].
张勇
论文数:
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张勇
;
顾大钊
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顾大钊
;
李全生
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李全生
;
曹志国
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曹志国
.
中国专利
:CN108195496A
,2018-06-22
[2]
测量设备及测量方法
[P].
吕旻樵
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吕旻樵
;
张晋嘉
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张晋嘉
;
许益嘉
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许益嘉
;
王国智
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王国智
;
李耀辉
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李耀辉
;
陈易呈
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陈易呈
.
中国专利
:CN108120390B
,2018-06-05
[3]
测量设备及测量方法
[P].
郭杨辰
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郭杨辰
.
中国专利
:CN106247958A
,2016-12-21
[4]
测量设备及测量方法
[P].
李洪涛
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李洪涛
;
钟光成
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钟光成
;
宋雷
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宋雷
;
陈胜东
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陈胜东
;
胡鹏
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胡鹏
;
吴海炼
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吴海炼
.
中国专利
:CN115435686A
,2022-12-06
[5]
测量设备及测量方法
[P].
蔡佳宏
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蔡佳宏
;
林富仓
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林富仓
;
林亚民
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林亚民
.
中国专利
:CN109521350B
,2019-03-26
[6]
测量设备及测量方法
[P].
陈鲁
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陈鲁
;
李青格乐
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李青格乐
;
韩子轲
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韩子轲
;
张嵩
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张嵩
.
中国专利
:CN109579713A
,2019-04-05
[7]
测量电路、测量方法及测量设备
[P].
李晓
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李晓
;
尤杰
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尤杰
.
中国专利
:CN111998921A
,2020-11-27
[8]
测量电路、测量方法及测量设备
[P].
李晓
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机构:
芯海科技(深圳)股份有限公司
芯海科技(深圳)股份有限公司
李晓
;
尤杰
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机构:
芯海科技(深圳)股份有限公司
芯海科技(深圳)股份有限公司
尤杰
.
中国专利
:CN111998921B
,2024-09-17
[9]
测量设备、测量系统及测量方法
[P].
稲垣智裕
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稲垣智裕
;
平田阳一
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平田阳一
.
中国专利
:CN103988485B
,2014-08-13
[10]
测量系统、测量设备及测量方法
[P].
朱百贤
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
朱百贤
;
小堺修
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
小堺修
;
寺岛彻
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
寺岛彻
.
日本专利
:CN121240823A
,2025-12-30
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