量子芯片测试装置、方法以及量子计算机

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申请号
CN202110588475.7
申请日
2021-05-28
公开(公告)号
CN115407184A
公开(公告)日
2022-11-29
发明(设计)人
石汉卿 张昂
申请人
申请人地址
230088 安徽省合肥市合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
IPC主分类号
G01R31319
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
量子芯片测试装置、方法以及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115407184B ,2024-04-05
[2]
量子芯片的测试方法、装置以及量子计算机 [P]. 
赵勇杰 ;
赵杨超 .
中国专利 :CN115144736A ,2022-10-04
[3]
量子芯片以及量子计算机 [P]. 
杨晖 ;
李松 ;
王壬德 ;
卜俊秀 .
中国专利 :CN217181559U ,2022-08-12
[4]
量子芯片测试方法、系统、存储介质以及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115409182B ,2024-01-05
[5]
量子芯片测试方法、系统、存储介质以及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115409182A ,2022-11-29
[6]
量子芯片测试方法、系统、装置及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115409184B ,2024-06-14
[7]
量子芯片测试方法、系统、装置及量子计算机 [P]. 
石汉卿 ;
张昂 .
中国专利 :CN115409184A ,2022-11-29
[8]
量子芯片的测试方法、量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117952217A ,2024-04-30
[9]
量子芯片的测试方法、量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117852657A ,2024-04-09
[10]
量子芯片的测试方法、量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117852658A ,2024-04-09