一种电气测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201521145128.3

申请日：

2015-12-28

公开(公告)号：

CN205228673U

公开(公告)日：

2016-05-11

发明(设计)人：

崔治

申请人：

申请人地址：

413000 湖南省益阳市迎宾东路518号

IPC主分类号：

G01K1300

IPC分类号：

G01K102

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-02-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01K 13/00 申请日:20151228 授权公告日:20160511 终止日期:20161228
2016-05-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电气老化环节测试装置 [P].

邵忠良 ;

谢展强 ;

黄诚 .

中国专利 :CN111103479A ,2020-05-05

[2]

一种电气老化环节测试装置 [P].

谢展强 ;

黄诚 .

中国专利 :CN211528558U ,2020-09-18

[3]

一种热辐射测试装置 [P].

黄祖炜 ;

陈越 ;

李金钟 ;

徐志新 .

中国专利 :CN214041224U ,2021-08-24

[4]

一种电气测试装置 [P].

郑占治 .

中国专利 :CN208013263U ,2018-10-26

[5]

一种电气测试装置 [P].

许慧娟 .

中国专利 :CN209802590U ,2019-12-17

[6]

电气测试装置 [P].

张响应 ;

黄成梦 .

中国专利 :CN201615932U ,2010-10-27

[7]

电气测试装置 [P].

土屋利彦 ;

堀诚一 .

中国专利 :CN201867426U ,2011-06-15

[8]

一种原位高温光谱测试装置 [P].

黄伟峰 ;

陈兴 ;

杨长春 .

中国专利 :CN111458305A ,2020-07-28

[9]

一种电池热失控测试装置 [P].

翟双 ;

李文博 .

中国专利 :CN221707605U ,2024-09-13

[10]

一种传感器测试装置 [P].

谢伟民 ;

韩伟 ;

林铁山 ;

周行 .

中国专利 :CN215114890U ,2021-12-10

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