线阵式超大口径平面光学元件面形检测装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310173244.5

申请日：

2013-05-10

公开(公告)号：

CN103267493B

公开(公告)日：

2013-08-28

发明(设计)人：

范勇陈念年巫玲王俊波杨程张劲峰

申请人：

申请人地址：

621010 四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

G01B1102

代理机构：

北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246

代理人：

龚燮英

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-06	授权	授权
2013-08-28	公开	公开
2018-05-29	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20130510 授权公告日:20160406 终止日期:20170510
2013-09-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101523327599 IPC(主分类):G01B 11/24 专利申请号:2013101732445 申请日:20130510

共 50 条

[1]

阵列式超大口径平面光学元件面形检测装置和方法 [P].

陈念年 ;

巫玲 ;

范勇 ;

王俊波 ;

杨程 ;

张劲峰 .

中国专利 :CN103267492A ,2013-08-28

[2]

多姿态大口径平面光学元件面形检测装置和方法 [P].

郑万国 ;

袁晓东 ;

熊召 ;

徐旭 ;

范勇 ;

陈念年 ;

刘长春 ;

叶海仙 ;

曹庭分 ;

易聪之 .

中国专利 :CN103245303A ,2013-08-14

[3]

大口径平面光学元件的面形检测装置和方法 [P].

范勇 ;

陈念年 ;

张劲峰 ;

杨程 .

中国专利 :CN101476880B ,2009-07-08

[4]

用于检测大口径平面光学元件面形拼接的装置及检测方法 [P].

田伟 ;

苗二龙 ;

隋永新 .

中国专利 :CN108204789A ,2018-06-26

[5]

大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法 [P].

段亚轩 ;

达争尚 ;

陈晓义 ;

袁索超 ;

范尧 ;

李铭 ;

王璞 .

中国专利 :CN112577446B ,2021-03-30

[6]

大口径平面光学元件面形的子孔径拼接检测技术及装置 [P].

李大海 ;

鄂可伟 ;

王琴 ;

章涛 .

中国专利 :CN106989689A ,2017-07-28

[7]

一种大口径平面光学元件面形绝对测量系统 [P].

朱小平 ;

李加福 ;

杜华 ;

王凯 ;

赵沫 ;

赵彦龙 .

中国专利 :CN112815871A ,2021-05-18

[8]

大口径平面光学元件的夹具和装夹方法 [P].

邵平 ;

居玲洁 ;

赵东峰 ;

汤更秀 ;

乔战峰 .

中国专利 :CN102615567B ,2012-08-01

[9]

一种大口径平面光学元件抛光装置 [P].

杨炜 ;

郭隐彪 ;

潘日 ;

张东旭 .

中国专利 :CN102528607B ,2012-07-04

[10]

大口径平面光学元件疵病三维快速暗场检测装置和方法 [P].

缪洁 ;

陈东贤 ;

谢雨江 ;

张雪洁 ;

崔子健 ;

杨朋千 ;

刘德安 ;

朱健强 .

中国专利 :CN105158269B ,2015-12-16

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