双波长激光同时辐照光学薄膜损伤阈值测量装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010126608.0

申请日：

2010-03-17

公开(公告)号：

CN101806657B

公开(公告)日：

2010-08-18

发明(设计)人：

周明李大伟赵元安邵建达范正修

申请人：

申请人地址：

201800 上海市800-211邮政信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G02B702 G02B530 G02B2608

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

张泽纯

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-05-09	授权	授权
2010-08-18	公开	公开
2010-10-06	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101006684920 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2010101266080 申请日:20100317

共 50 条

[1]

高温环境下激光辐照光学薄膜损伤阈值测量装置和方法 [P].

许程 ;

杨帅 ;

义鹏 ;

郭立童 ;

张含卓 ;

尹诗斌 ;

李大伟 ;

强颖怀 ;

刘炯天 .

中国专利 :CN102608019A ,2012-07-25

[2]

高温环境下激光辐照光学薄膜损伤阈值测量装置 [P].

许程 ;

杨帅 ;

义鹏 ;

郭立童 ;

张含卓 ;

李大伟 ;

强颖怀 ;

刘炯天 .

中国专利 :CN202502035U ,2012-10-24

[3]

一种光学薄膜激光损伤阈值快速测量装置 [P].

王菲 ;

刘长青 ;

李玉瑶 ;

于彪 ;

王彩霞 ;

田明 ;

丁伟 ;

戚伟佳 ;

王奂 ;

罗宽 .

中国专利 :CN109799074B ,2019-05-24

[4]

光学薄膜损伤阈值的测试系统 [P].

樊仲维 ;

朱光 .

中国专利 :CN102589848A ,2012-07-18

[5]

一种光学薄膜激光损伤阈值测试系统及其方法 [P].

赵元安 ;

马浩 ;

邵建达 ;

李大伟 ;

刘晓凤 ;

邵宇宸 ;

李成 ;

李婷 .

中国专利 :CN110542684A ,2019-12-06

[6]

提高光学薄膜激光损伤阈值的镀膜方法 [P].

张东平 ;

范正修 ;

邵建达 ;

张大伟 ;

范树海 ;

齐红基 ;

赵元安 .

中国专利 :CN1298886C ,2005-05-11

[7]

一种光学薄膜和光电器件表面激光损伤阈值测量装置 [P].

王菲 ;

李玉瑶 ;

王晓华 ;

魏志鹏 ;

方铉 ;

张国玉 ;

付秀华 ;

车英 .

中国专利 :CN103162941A ,2013-06-19

[8]

一种提高光学薄膜损伤阈值的大面激光薄膜制备装置 [P].

彭钦军 ;

申玉 ;

杨峰 ;

袁磊 ;

薄勇 .

中国专利 :CN109972095A ,2019-07-05

[9]

一种真空环境下光学薄膜激光损伤阈值测试装置及方法 [P].

凌秀兰 ;

刘晓凤 ;

田二明 ;

颜兵 ;

王高 .

中国专利 :CN106768889A ,2017-05-31

[10]

一种快速、实时测量光学薄膜激光损伤阈值的方法及装置 [P].

凌秀兰 ;

颜兵 ;

邵智聪 ;

陈旭彬 ;

庞昕玥 .

中国专利 :CN119618573A ,2025-03-14

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