一种NAND闪存可靠性等级检测装置

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申请号
CN202122984751.X
申请日
2021-11-30
公开(公告)号
CN216311350U
公开(公告)日
2022-04-15
发明(设计)人
高影 刘晓志 庞海清
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道粤兴三道2号深圳虚拟大学园院校产业化综合大楼B505
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
深圳驿航知识产权代理事务所(普通合伙) 44605
代理人
杨伦
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种提高NAND闪存数据可靠性的方法及装置 [P]. 
龚晖 .
中国专利 :CN109542667A ,2019-03-29
[2]
一种可靠性检测装置 [P]. 
金凤鸣 .
中国专利 :CN216771323U ,2022-06-17
[3]
一种可靠性检测装置 [P]. 
李伟 .
中国专利 :CN205317869U ,2016-06-15
[4]
一种闪存可靠性验证实验装置 [P]. 
安健 ;
王今雨 ;
王龙翔 ;
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中国专利 :CN221946481U ,2024-11-01
[5]
闪存芯片可靠性等级预测方法、装置及存储介质 [P]. 
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张浩明 ;
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[6]
可靠性闪存存储装置 [P]. 
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[7]
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[8]
一种轨道可靠性检测装置 [P]. 
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[9]
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[10]
一种电机可靠性检测装置 [P]. 
蒋燕斌 .
中国专利 :CN217305446U ,2022-08-26