应用调试方法及装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010128642.5
申请日
2020-02-28
公开(公告)号
CN111338961A
公开(公告)日
2020-06-26
发明(设计)人
董永清 潘温 孙良木
申请人
申请人地址
100085 北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京善任知识产权代理有限公司 11650
代理人
康艳青
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
设备调试方法及装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄助良 .
中国专利 :CN112260860B ,2024-03-29
[2]
设备调试方法及装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄助良 .
中国专利 :CN112260860A ,2021-01-22
[3]
调试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
赵若然 .
中国专利 :CN119596718A ,2025-03-11
[4]
调试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
王海波 ;
田宽 .
中国专利 :CN114490345B ,2025-07-08
[5]
调试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
王海波 ;
田宽 .
中国专利 :CN114490345A ,2022-05-13
[6]
调试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
米庆安 ;
李琳 ;
周冰 ;
李小海 ;
于芹 .
中国专利 :CN111400177A ,2020-07-10
[7]
调试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
董龙声 .
中国专利 :CN111798785A ,2020-10-20
[8]
调试方法、调试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
肖俊阳 ;
罗金阁 ;
马伟哲 ;
吴新 ;
袁国权 ;
刘义胜 ;
曾通 .
中国专利 :CN118264641A ,2024-06-28
[9]
设备调试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
林进全 .
中国专利 :CN111338673A ,2020-06-26
[10]
设备调试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
安志华 ;
邹瑞先 ;
潘磊 .
中国专利 :CN115562986A ,2023-01-03