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一种偏光片厚度均匀程度高效检测装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121511791.6
申请日：
2021-07-05
公开(公告)号：
CN214843032U
公开(公告)日：
2021-11-23
发明(设计)人：
覃建宁
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区西乡街道蚝业社区宝源路1053号资信达大厦801
IPC主分类号：
G01B1106
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-11-23 | 授权 | 授权 |