微粒成分测量方法以及微粒成分测量装置

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专利类型
发明
申请号
CN200680034289.2
申请日
2006-09-20
公开(公告)号
CN101268357A
公开(公告)日
2008-09-17
发明(设计)人
藤井隆 后藤直彦 三木惠 名雪琢弥 根本孝七 田中伸幸
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G01N2163
IPC分类号
代理机构
上海专利商标事务所有限公司
代理人
范征
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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[3]
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[5]
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[10]
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