颗粒物粒径测量系统和质谱仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910019536.0

申请日：

2019-01-09

公开(公告)号：

CN111426610A

公开(公告)日：

2020-07-17

发明(设计)人：

杜绪兵邓飞喻佳俊朱星高刘平代新黄凯彬刘今朝陈颖

申请人：

申请人地址：

510530 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城开源大道11号A3栋第三层

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

G01N2762

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

林青中

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-22	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01N 15/02 变更事项:申请人变更前:广州禾信仪器股份有限公司变更后:广州禾信仪器股份有限公司变更事项:地址变更前:510530 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城开源大道11号A3栋第三层变更后:510535 广东省广州市黄埔区新瑞路16号
2020-07-17	公开	公开
2020-08-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20190109

共 50 条

[1]

用于颗粒物粒径测量的激光测径系统和质谱仪 [P].

邓飞 ;

杜绪兵 ;

喻佳俊 ;

朱星高 ;

刘平 ;

代新 ;

黄凯彬 ;

刘今朝 ;

陈颖 .

中国专利 :CN209656505U ,2019-11-19

[2]

颗粒物散射光收集装置以及激光测径系统和质谱仪 [P].

杜绪兵 ;

邓飞 ;

喻佳俊 ;

朱星高 ;

刘平 ;

代新 ;

黄凯彬 ;

刘今朝 ;

陈颖 .

中国专利 :CN209656506U ,2019-11-19

[3]

颗粒物浓度测量系统 [P].

郭天祥 .

中国专利 :CN107462502A ,2017-12-12

[4]

大气颗粒物的粒径与形状测量装置 [P].

郑海洋 ;

丁蕾 ;

王颖萍 ;

方黎 .

中国专利 :CN105403489A ,2016-03-16

[5]

颗粒物测量系统 [P].

W·M·塞尔维斯 ;

R·万科 .

中国专利 :CN102656344A ,2012-09-05

[6]

一种单颗粒物偏振光学性质和光学粒径谱测量系统 [P].

潘小乐 ;

田雨 ;

王自发 .

中国专利 :CN110849817A ,2020-02-28

[7]

一种大气颗粒物粒径分布的在线测量系统及方法 [P].

韩鹏 ;

黄桂琼 ;

徐炳权 ;

彭力 ;

邱健 ;

骆开庆 ;

刘冬梅 .

中国专利 :CN112504922B ,2021-03-16

[8]

测量颗粒物的电子系统和图像系统以及测量颗粒物的方法 [P].

金重圭 ;

李敏赫 .

韩国专利 :CN112683852B ,2025-10-31

[9]

测量颗粒物的电子系统和图像系统以及测量颗粒物的方法 [P].

金重圭 ;

李敏赫 .

中国专利 :CN112683852A ,2021-04-20

[10]

颗粒物车载排放测量系统 [P].

李孟良 ;

张远军 .

中国专利 :CN201004045Y ,2008-01-09

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