一种光学测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811236295.7

申请日：

2018-10-23

公开(公告)号：

CN111090223B

公开(公告)日：

2020-05-01

发明(设计)人：

毛静超徐荣伟庄亚政孙建超季桂林

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1525号

IPC主分类号：

G03F900

IPC分类号：

G01B1106 G01B1127

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

孟金喆

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 9/00 申请日:20181023
2021-02-26	授权	授权
2020-05-01	公开	公开

共 50 条

[1]

一种光学测量系统 [P].

金宇 .

中国专利 :CN216622678U ,2022-05-27

[2]

一种光学测量系统 [P].

谢婉露 ;

吴晓斌 ;

沙鹏飞 ;

韩晓泉 ;

王魁波 ;

李慧 ;

罗艳 ;

谭芳蕊 ;

马赫 .

中国专利 :CN115112610B ,2025-12-02

[3]

一种光学测量系统 [P].

谢婉露 ;

吴晓斌 ;

沙鹏飞 ;

韩晓泉 ;

王魁波 ;

李慧 ;

罗艳 ;

谭芳蕊 ;

马赫 .

中国专利 :CN115112610A ,2022-09-27

[4]

光学测量系统 [P].

亚尔科·安蒂拉 ;

尤拉·坎托加维 ;

亚斯·马科耶恩 .

中国专利 :CN107250740A ,2017-10-13

[5]

光学测量系统 [P].

庆祖林 .

中国专利 :CN212721751U ,2021-03-16

[6]

光学测量系统 [P].

庆祖林 .

中国专利 :CN111486953A ,2020-08-04

[7]

光学测量系统 [P].

索尼亚·马丁洛佩斯 ;

胡安·迭戈·阿尼亚卡斯塔农 ;

佩德罗·科拉德拉吉伦 ;

米格尔·冈萨雷斯埃朗泽 .

中国专利 :CN102762958B ,2012-10-31

[8]

一种光学测量系统及光学测量设备 [P].

宣海 ;

徐胜昌 .

中国专利 :CN210664337U ,2020-06-02

[9]

一种光学测量系统 [P].

庆祖林 .

中国专利 :CN111486952A ,2020-08-04

[10]

一种光学测量系统 [P].

庆祖林 .

中国专利 :CN212133865U ,2020-12-11

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