半导体存储装置及其测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210075525.2

申请日：

2012-03-21

公开(公告)号：

CN103093828B

公开(公告)日：

2013-05-08

发明(设计)人：

李宰雄

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G11C2904

IPC分类号：

代理机构：

北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363

代理人：

俞波;郭放

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-05-08	公开	公开
2014-09-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587147906 IPC(主分类):G11C 29/04 专利申请号:2012100755252 申请日:20120321
2017-08-25	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体存储装置 [P].

广田卓哉 ;

柳田崇雄 .

中国专利 :CN101042931B ,2007-09-26

[2]

半导体存储装置及其测试方法 [P].

小桥寿夫 ;

月川靖彦 .

中国专利 :CN1121693C ,1998-04-01

[3]

半导体存储装置及其测试方法和测试电路 [P].

高桥弘行 ;

加藤羲之 ;

稻叶秀雄 ;

内田祥三 ;

园田正俊 .

中国专利 :CN1455932A ,2003-11-12

[4]

半导体存储装置及其测试方法和测试电路 [P].

高桥弘行 ;

稻叶秀雄 ;

内田祥三 .

中国专利 :CN1703759A ,2005-11-30

[5]

半导体存储装置 [P].

沓挂静香 .

中国专利 :CN114446978A ,2022-05-06

[6]

半导体存储装置 [P].

前岛洋 .

日本专利 :CN117746949A ,2024-03-22

[7]

半导体存储装置 [P].

白川政信 ;

二山拓也 ;

阿部健一 .

中国专利 :CN105405464B ,2016-03-16

[8]

半导体存储装置 [P].

小池刚 .

中国专利 :CN102473453B ,2012-05-23

[9]

半导体存储装置 [P].

田尻雅之 ;

岛冈笃志 ;

井上刚至 .

中国专利 :CN101199023A ,2008-06-11

[10]

半导体存储装置 [P].

市村彻 ;

冲本裕美 ;

林越正纪 ;

飞田洋一 .

中国专利 :CN101042928A ,2007-09-26

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