一种传感器基线漂移校正方法及检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710846397.X

申请日：

2017-09-15

公开(公告)号：

CN107607144B

公开(公告)日：

2018-01-19

发明(设计)人：

欧阳彬王玉政

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区福田街道滨河大道5022号联合广场A座3701

IPC主分类号：

G01D1800

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

王宝筠

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-02-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 18/00 申请日:20170915
2020-09-25	授权	授权
2018-01-19	公开	公开

共 50 条

[1]

一种传感器基线漂移校正的方法以及检测设备 [P].

欧阳彬 ;

王玉政 .

中国专利 :CN107607143B ,2018-01-19

[2]

基线漂移校正电路、基线漂移校正方法及通信系统 [P].

荣志超 ;

张晨光 .

中国专利 :CN119652710A ,2025-03-18

[3]

基线漂移校正电路、基线漂移校正方法及通信系统 [P].

荣志超 ;

韩雷 ;

张晨光 .

中国专利 :CN120238398A ,2025-07-01

[4]

基线漂移校正电路、基线漂移校正方法及通信系统 [P].

荣志超 ;

张晨光 .

中国专利 :CN119652710B ,2025-04-15

[5]

干扰和基线漂移校正传感器系统 [P].

D·托布乔克 ;

N·达尔特奈尔 ;

P·凯彻林 ;

R·阿切尔 .

中国专利 :CN113631921A ,2021-11-09

[6]

干扰和基线漂移校正传感器系统 [P].

D·托布乔克 ;

N·达尔特奈尔 ;

P·凯彻林 ;

R·阿切尔 .

日本专利 :CN113631921B ,2024-08-23

[7]

基线漂移校正系统及方法 [P].

林志冯 .

中国专利 :CN102480292A ,2012-05-30

[8]

信号基线漂移校正的方法、装置及设备 [P].

谢卓延 ;

杨其宇 ;

程斯栩 ;

李志 .

中国专利 :CN108634935A ,2018-10-12

[9]

一种背照式CCD基线漂移校正方法 [P].

郑思旭 ;

袁宇 .

中国专利 :CN119756578A ,2025-04-04

[10]

一种背照式CCD基线漂移校正方法 [P].

郑思旭 ;

袁宇 .

中国专利 :CN119756578B ,2025-10-17

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