一种Mock测试方法、装置及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910899097.7
申请日
2019-09-23
公开(公告)号
CN110716919A
公开(公告)日
2020-01-21
发明(设计)人
吕晨
申请人
申请人地址
300280 天津市经济技术开发区南港工业区综合服务区办公楼C座一层112室05单元
IPC主分类号
G06F1621
IPC分类号
G06F1623 G06F1136
代理机构
北京德琦知识产权代理有限公司 11018
代理人
陈舒维;宋志强
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
Mock测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张超群 .
中国专利 :CN115129586A ,2022-09-30
[2]
Mock测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
赵俊杰 .
中国专利 :CN113778871A ,2021-12-10
[3]
Mock测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
林建明 ;
黄游迎 .
中国专利 :CN121070793A ,2025-12-05
[4]
Mock测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
吴嘉炜 .
中国专利 :CN120086136A ,2025-06-03
[5]
一种测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
吕书朋 .
中国专利 :CN114138629A ,2022-03-04
[6]
基于流量的自动Mock方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
罗维练 .
中国专利 :CN113938473A ,2022-01-14
[7]
基于Mock的测试方法、装置、设备及可读存储介质 [P]. 
郑如刚 .
中国专利 :CN111797004A ,2020-10-20
[8]
mock服务方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
李朋娟 ;
曹卫娟 ;
卜祥征 ;
高艳 ;
王瑞 .
中国专利 :CN119883396A ,2025-04-25
[9]
mock服务处理方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
叶俊阳 .
中国专利 :CN115422073A ,2022-12-02
[10]
基于自定义Mock平台的Mock方法、系统、装置及存储介质 [P]. 
张敏 .
中国专利 :CN112667508A ,2021-04-16