多能X射线成像方法、存储介质、X射线源及成像系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010026550.6

申请日：

2020-01-10

公开(公告)号：

CN113116366A

公开(公告)日：

2021-07-16

发明(设计)人：

邹鲁民

申请人：

申请人地址：

101111 北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号2号楼一层

IPC主分类号：

A61B600

IPC分类号：

G01N23087

代理机构：

北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479

代理人：

高园园

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/00 申请日:20200110
2021-07-16	公开	公开

共 50 条

[1]

X射线成像系统及X射线成像方法 [P].

曹培炎 ;

刘雨润 .

中国专利 :CN110022770A ,2019-07-16

[2]

X射线成像系统及X射线成像方法 [P].

王文琳 ;

周莉 .

中国专利 :CN111110262A ,2020-05-08

[3]

X射线成像系统以及X射线成像方法 [P].

王彦 ;

郭兆华 ;

周爱珍 ;

袁梓译 ;

朱超 ;

张传福 ;

V·拉加万 ;

R·布哈特 ;

N·阿加瓦尔 ;

S·库玛 ;

R·佩里亚斯瓦米 .

美国专利 :CN119318494A ,2025-01-17

[4]

X射线成像系统及X射线成像方法 [P].

王文琳 ;

周莉 .

中国专利 :CN111110262B ,2024-01-19

[5]

X射线成像系统以及X射线成像方法 [P].

贾文成 ;

周凌志 ;

曹有宝 ;

李富生 .

美国专利 :CN119949856A ,2025-05-09

[6]

X射线源阴极检测方法、检测系统及X射线成像系统 [P].

唐华平 ;

李科 ;

董超 ;

秦占峰 ;

张庆辉 .

中国专利 :CN110831310A ,2020-02-21

[7]

X射线源和成像系统 [P].

S.戈斯曼 ;

O.海德 ;

T.休斯 .

中国专利 :CN105164784A ,2015-12-16

[8]

偏转电极组件、X射线源和X射线成像系统 [P].

陈志强 ;

唐华平 ;

金鑫 .

中国专利 :CN114068267A ,2022-02-18

[9]

X射线切面成像方法、存储介质及成像系统 [P].

邹鲁民 .

中国专利 :CN113520421A ,2021-10-22

[10]

X射线成像系统、X射线衰减件和X射线成像方法 [P].

潘晓明 .

中国专利 :CN120668693A ,2025-09-19

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