一种用于探测器的干扰横条纹校正方法、系统和介质设备

被引：0

申请号：

CN202211071165.9

申请日：

2022-09-01

公开(公告)号：

CN115643492A

公开(公告)日：

2023-01-24

发明(设计)人：

杨光罗杰

申请人：

申请人地址：

610200 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都市双流区西南航空港经济开发区黄甲街道双兴大道1号

IPC主分类号：

H04N2544

IPC分类号：

H04N2577 H04N2575 H04N2578 H04N2381 G01T700

代理机构：

北京轻创知识产权代理有限公司 11212

代理人：

厉洋洋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-24	公开	公开
2023-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 25/44 申请日:20220901

共 50 条

[1]

一种用于探测器的干扰横条纹校正方法、系统和介质设备 [P].

杨光 ;

罗杰 .

中国专利 :CN115643492B ,2024-12-27

[2]

应用于探测器的实时偏置校正方法、系统、介质及设备 [P].

杨光 ;

赵世强 ;

罗杰 .

中国专利 :CN115665567A ,2023-01-31

[3]

应用于探测器的实时偏置校正方法、系统、介质及设备 [P].

杨光 ;

赵世强 ;

罗杰 .

中国专利 :CN115665567B ,2024-07-30

[4]

一种探测器校正方法和系统 [P].

韩振杰 ;

卢贞瑞 ;

安少辉 ;

毕东东 ;

褚少平 ;

王谢夫 .

中国专利 :CN114089409A ,2022-02-25

[5]

一种探测器校正方法和系统 [P].

韩振杰 ;

卢贞瑞 ;

安少辉 ;

毕东东 ;

褚少平 ;

王谢夫 .

中国专利 :CN114089409B ,2024-10-22

[6]

平板探测器的漂移校正方法、装置、系统和存储介质 [P].

费孝爱 .

中国专利 :CN110109174A ,2019-08-09

[7]

平板探测器的漂移校正方法、装置、系统和存储介质 [P].

费孝爱 .

中国专利 :CN110109174B ,2024-01-23

[8]

探测器单元的校正方法和记录介质 [P].

笠原耕树 .

中国专利 :CN115435729A ,2022-12-06

[9]

平板探测器的坏点校正方法 [P].

陈永丽 ;

牛杰 ;

胡扬 ;

崔凯 ;

张文日 .

中国专利 :CN104835125A ,2015-08-12

[10]

平板探测器的增益校正方法 [P].

王淑丽 .

中国专利 :CN109709597A ,2019-05-03

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