一种相位测量装置、电子设备及相位测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820131610.9

申请日：

2018-01-25

公开(公告)号：

CN207764300U

公开(公告)日：

2018-08-24

发明(设计)人：

刘梓轩邱文才张辉

申请人：

申请人地址：

518054 广东省深圳市南山区粤海街道科智西路5号园西工业区25栋2段411室

IPC主分类号：

G01R2500

IPC分类号：

代理机构：

深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341

代理人：

何婷

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种相位测量方法及相位测量装置 [P].

刘梓轩 ;

邱文才 ;

张辉 .

中国专利 :CN110082593B ,2024-10-15

[2]

一种相位测量方法及相位测量装置 [P].

刘梓轩 ;

邱文才 ;

张辉 .

中国专利 :CN110082593A ,2019-08-02

[3]

一种相位测量系统及方法 [P].

任水生 ;

刘宝东 ;

刘强 ;

杜念文 ;

杨帆 .

中国专利 :CN107247183A ,2017-10-13

[4]

一种基于量子弱测量的极小相位测量系统 [P].

胡孟军 ;

张永生 ;

胡晓敏 ;

柳必恒 .

中国专利 :CN207317950U ,2018-05-04

[5]

一种相位测量装置 [P].

吴浩浩 ;

夏启潮 .

中国专利 :CN212459845U ,2021-02-02

[6]

一种电相位测量系统及其测量方法 [P].

孙鹏 ;

陈文菲 ;

谢亦晨 ;

李雪莹 ;

钱进 ;

禹林业 .

中国专利 :CN118914660A ,2024-11-08

[7]

一种原料相位测量设备 [P].

郭骄阳 .

中国专利 :CN206431095U ,2017-08-22

[8]

一种相位测量的校准装置及测量装置 [P].

杜学璋 .

中国专利 :CN203858361U ,2014-10-01

[9]

一种相位测量仪 [P].

林愿 .

中国专利 :CN202033421U ,2011-11-09

[10]

相位测量系统及超透镜检测方法 [P].

陈新东 ;

李威翰 ;

苗亮 ;

张鑫 ;

考红旭 ;

王智豪 .

中国专利 :CN119845546A ,2025-04-18

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