测序和高分辨率成像

被引：0

申请号：

CN202210393098.6

申请日：

2018-03-19

公开(公告)号：

CN114921537A

公开(公告)日：

2022-08-19

发明(设计)人：

B·P·斯塔克刘念东马诺哈尔·R·弗塔多方日勋诺曼·伯恩斯温莎·欧文斯

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

C12Q16874

IPC分类号：

G06V2069 G16B3010 G16B2530 G06K900

代理机构：

北京安信方达知识产权代理有限公司 11262

代理人：

贺淑东;武晶晶

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):C12Q 1/6874 申请日:20180319
2022-08-19	公开	公开

共 50 条

[1]

测序和高分辨率成像 [P].

B·P·斯塔克 ;

刘念东 ;

马诺哈尔·R·弗塔多 ;

方日勋 ;

诺曼·伯恩斯 ;

温莎·欧文斯 .

中国专利 :CN110650794B ,2020-01-03

[2]

高分辨率成像 [P].

J·M·罗登伯格 ;

H·M·L·福尔克纳 .

中国专利 :CN1985188A ,2007-06-20

[3]

高分辨率成像设备和方法 [P].

保罗·科克姆 ;

亚历山大·洛博达 .

加拿大专利 :CN113678227B ,2024-11-12

[4]

高分辨率成像设备和方法 [P].

保罗·科克姆 ;

亚历山大·洛博达 .

中国专利 :CN113678227A ,2021-11-19

[5]

高分辨率探针 [P].

庄紫云 ;

王擎擎 ;

李根乾 .

中国专利 :CN120721685A ,2025-09-30

[6]

扩展容积的高分辨率成像 [P].

K·德拉起亚 ;

T·威滕伯格 .

中国专利 :CN104204898A ,2014-12-10

[7]

高分辨率构图 [P].

H·E·里埃尔 ;

W·里斯 ;

S·F·卡格 .

中国专利 :CN1771614A ,2006-05-10

[8]

用于高分辨率成像的系统和方法 [P].

袁保红 ;

程冰冰 ;

韦明元 .

中国专利 :CN107430074B ,2017-12-01

[9]

双小凹局部高分辨率成像系统 [P].

常军 ;

冯驰 ;

查为懿 ;

牛亚军 ;

王凡 ;

许尧 ;

谢桂娟 .

中国专利 :CN104102018B ,2014-10-15

[10]

一种高分辨率成像系统 [P].

杨乐宝 ;

王宏达 .

中国专利 :CN214384623U ,2021-10-12

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