测试用例生成方法、系统、存储介质及电子装置

被引：0

申请号：

CN202211193338.4

申请日：

2022-09-28

公开(公告)号：

CN115695264A

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

贾永科

申请人：

申请人地址：

100086 北京市海淀区知春路106号太平洋国际大厦6层601-606室

IPC主分类号：

H04L4350

IPC分类号：

H04L1228 F24F1130

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

肖艳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	公开	公开

共 50 条

[1]

测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置 [P].

张军 ;

徐静 ;

季明志 .

中国专利 :CN118519888A ,2024-08-20

[2]

软件测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置 [P].

马丹 ;

付丽莉 ;

朱宸 ;

刘安宁 ;

陈建运 ;

李旻艳 ;

刘鸿 .

中国专利 :CN121233476A ,2025-12-30

[3]

测试用例生成方法、终端及存储介质 [P].

康德恩 ;

何方 ;

梁玮 .

中国专利 :CN107678948A ,2018-02-09

[4]

测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置 [P].

吴朝芬 .

中国专利 :CN115658524A ,2023-01-31

[5]

接口测试用例生成方法、电子装置及存储介质 [P].

钟世亮 ;

王硕 ;

冷易 ;

张晨枫 ;

张一涛 .

中国专利 :CN110647471A ,2020-01-03

[6]

接口测试用例生成方法、电子装置及存储介质 [P].

黄煜雄 ;

钟义彪 ;

陈伟 ;

陈丽冰 .

中国专利 :CN111459812A ,2020-07-28

[7]

测试用例生成方法、测试用例生成装置、存储介质及电子设备 [P].

宋东辉 ;

朱丽青 ;

阳际荣 ;

陈锦海 .

中国专利 :CN119847920A ,2025-04-18

[8]

模组测试用例生成方法、装置、电子装置和存储介质 [P].

付武江 ;

赖琦 .

中国专利 :CN115757091B ,2025-12-26

[9]

测试用例的生成方法及装置、存储介质、电子装置 [P].

赵翠霞 .

中国专利 :CN117687903A ,2024-03-12

[10]

测试用例的生成方法、装置、存储介质及电子装置 [P].

石阳 .

中国专利 :CN115658474A ,2023-01-31

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