一种面板缺陷检测方法及系统及装置及介质

被引：0

申请号：

CN202211702034.6

申请日：

2022-12-29

公开(公告)号：

CN115661160A

公开(公告)日：

2023-01-31

发明(设计)人：

请求不公布姓名

申请人：

申请人地址：

610042 四川省成都市武侯区锦绣街8号2层270号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06V10764 G06N308 G06N2000 G06N30464

代理机构：

成都云纵知识产权代理事务所(普通合伙) 51316

代理人：

熊曦

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20221229
2023-01-31	公开	公开

共 50 条

[1]

一种面板缺陷增强检测方法及系统及装置及介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115661159A ,2023-01-31

[2]

一种布匹缺陷检测方法、系统、设备及介质 [P].

陈梓欣 ;

李若琦 ;

张重阳 ;

张保柱 ;

刘振宇 .

中国专利 :CN116228651B ,2025-12-05

[3]

一种面板缺陷的检测方法、训练方法、装置、设备及介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN115578377A ,2023-01-06

[4]

一种显示面板的模组缺陷检测方法及系统 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN119741291A ,2025-04-01

[5]

一种面板缺陷检测设备及面板缺陷检测方法 [P].

王绍凯 ;

黄运 ;

黄新剑 ;

谭久彬 .

中国专利 :CN113176276A ,2021-07-27

[6]

一种面板缺陷检测设备及面板缺陷检测方法 [P].

王绍凯 ;

黄运 ;

蒋荷洁 ;

谭久彬 .

中国专利 :CN113176278B ,2021-07-27

[7]

一种面板缺陷检测装置及检测方法 [P].

杨朝兴 .

中国专利 :CN113533351A ,2021-10-22

[8]

显示面板缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质 [P].

陈春煦 ;

张胜森 ;

郑增强 .

中国专利 :CN111815628B ,2020-10-23

[9]

面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114037700A ,2022-02-11

[10]

面板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN114037700B ,2025-04-22

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