一种TF卡连续测试工装

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202122293078.5
申请日
2021-09-22
公开(公告)号
CN215868654U
公开(公告)日
2022-02-18
发明(设计)人
凌宇
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区华宁路伟杰科技园2栋2层
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489
代理人
刘艳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种TF卡连续测试工装 [P]. 
李锦光 .
中国专利 :CN209935309U ,2020-01-14
[2]
一种TF卡连续测试工装 [P]. 
方东 .
中国专利 :CN215577705U ,2022-01-18
[3]
一种TF卡连续测试工装 [P]. 
郑朋飞 ;
李海生 ;
汪远泉 ;
金明 ;
宋坤 ;
陈秀敏 .
中国专利 :CN207068476U ,2018-03-02
[4]
用于SD NAND卡的连续测试工装 [P]. 
黄少娃 .
中国专利 :CN211016551U ,2020-07-14
[5]
一种测试工装 [P]. 
张伟阳 .
中国专利 :CN211741439U ,2020-10-23
[6]
一种测试工装 [P]. 
唐波 ;
吕春松 ;
彭亮 ;
朱通 ;
易健 .
中国专利 :CN205861092U ,2017-01-04
[7]
一种卡扣工件测试工装 [P]. 
胡德君 ;
朱国琳 ;
汪大胜 ;
石敏 ;
张必龙 ;
王钱峰 ;
韩文 ;
秦文涛 .
中国专利 :CN206812385U ,2017-12-29
[8]
测试工装 [P]. 
李永富 ;
王安国 ;
王东尧 .
中国专利 :CN221650329U ,2024-09-03
[9]
测试工装 [P]. 
马东辉 ;
高岳旸 .
中国专利 :CN209014259U ,2019-06-21
[10]
温度测量卡测试工装 [P]. 
吴汉中 ;
何东 .
中国专利 :CN208704919U ,2019-04-05