IC芯片快闪测试机

被引：0

申请号：

CN202221530371.7

申请日：

2022-06-20

公开(公告)号：

CN217879515U

公开(公告)日：

2022-11-22

发明(设计)人：

黄家国

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区观澜街道桂花社区新石桥街南巷6号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

深圳市鼎智专利代理事务所(普通合伙) 44411

代理人：

张小晶

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

IC芯片测试机的收料装置 [P].

张英乾 ;

张博 .

中国专利 :CN209531466U ,2019-10-25

[2]

一种IC芯片测试机的收料装置 [P].

郭寂波 .

中国专利 :CN213689864U ,2021-07-13

[3]

IC芯片测试机的翻转上料装置 [P].

张英乾 ;

张博 .

中国专利 :CN209905817U ,2020-01-07

[4]

芯片性能测试机 [P].

纪登国 ;

吉晓红 ;

张林孝 ;

史保华 ;

曾平国 .

中国专利 :CN221056586U ,2024-05-31

[5]

IC芯片测试机的收料装置 [P].

张英乾 ;

张博 .

中国专利 :CN109530246B ,2024-07-30

[6]

IC芯片测试机的收料装置 [P].

张英乾 ;

张博 .

中国专利 :CN109530246A ,2019-03-29

[7]

芯片测试机 [P].

白盛闵 .

中国专利 :CN217787141U ,2022-11-11

[8]

芯片测试机构及测试机 [P].

张磊 ;

陈波 .

中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24

[9]

IC芯片测试机的翻转上料装置 [P].

张英乾 ;

张博 .

中国专利 :CN109502296B ,2024-07-30

[10]

IC芯片测试机的翻转上料装置 [P].

张英乾 ;

张博 .

中国专利 :CN109502296A ,2019-03-22

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