密距脚集成电路测试分选机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201120395106.8
申请日
2011-10-17
公开(公告)号
CN202270662U
公开(公告)日
2012-06-13
发明(设计)人
陈贤明 林宽强
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区黄田金碧工业区11栋
IPC主分类号
B07C5344
IPC分类号
B07C502 B07C536
代理机构
深圳市博锐专利事务所 44275
代理人
张明
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路测试分选机 [P]. 
班华 ;
王晓军 ;
陈涛 .
中国专利 :CN2788907Y ,2006-06-21
[2]
集成电路分选机 [P]. 
陈贤明 ;
林宽强 .
中国专利 :CN202137137U ,2012-02-08
[3]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
洪彬玉 .
中国专利 :CN208527376U ,2019-02-22
[4]
集成电路测试分选机分类装置 [P]. 
吴成君 ;
林强 .
中国专利 :CN214638297U ,2021-11-09
[5]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
柯武生 ;
王桂桂 ;
黄崇城 ;
张进国 .
中国专利 :CN211989793U ,2020-11-24
[6]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
陈少宽 ;
曾建阳 ;
曾振崇 .
中国专利 :CN208574974U ,2019-03-05
[7]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
黄伟华 .
中国专利 :CN214184110U ,2021-09-14
[8]
集成电路测试分选机压测测试机构 [P]. 
吴成君 ;
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[9]
集成电路四测位重力式测试分选机 [P]. 
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张华 ;
刘义 .
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[10]
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吴成君 ;
张民贵 .
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