双光相机校准设备、方法、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110287677.8
申请日
2021-03-17
公开(公告)号
CN113068019B
公开(公告)日
2021-07-02
发明(设计)人
范明智
申请人
申请人地址
310051 浙江省杭州市滨江区丹枫路399号2号楼B楼311室
IPC主分类号
H04N1700
IPC分类号
G06T780
代理机构
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413
代理人
孟维娜;高莺然
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
相机校准方法、装置、系统、电子设备及可读存储介质 [P]. 
黄浩 .
中国专利 :CN115345914A ,2022-11-15
[2]
温度校准方法、电子设备及存储介质 [P]. 
马元州 ;
张龙 ;
王新江 .
中国专利 :CN120445467A ,2025-08-08
[3]
触控笔校准方法、电子设备及存储介质 [P]. 
刘耀冲 .
中国专利 :CN118444796A ,2024-08-06
[4]
指纹校准方法、电子设备及存储介质 [P]. 
杨浩 .
中国专利 :CN112990163B ,2021-06-18
[5]
触控笔校准方法、电子设备及存储介质 [P]. 
刘耀冲 .
中国专利 :CN118444796B ,2025-12-12
[6]
校准方法、校准装置、电子设备、校准设备及介质 [P]. 
贺斌 ;
罗泉 .
中国专利 :CN119374714A ,2025-01-28
[7]
相机调节方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
廖明 .
中国专利 :CN113038019A ,2021-06-25
[8]
可穿戴设备、物理指针校准方法、电子设备及存储介质 [P]. 
尹少伟 ;
黄为为 ;
陈焕青 ;
万江 .
中国专利 :CN113075876B ,2021-07-06
[9]
电子设备、校准方法以及存储介质 [P]. 
大村竜义 .
日本专利 :CN117740026A ,2024-03-22
[10]
深度相机外部校准方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张明 ;
文学森 .
中国专利 :CN120852532A ,2025-10-28