蚀刻多晶硅层以形成多晶硅闸极的方法

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专利类型
发明
申请号
CN01140819.7
申请日
2001-09-19
公开(公告)号
CN1191613C
公开(公告)日
2003-03-26
发明(设计)人
吴燕萍 何岳风
申请人
申请人地址
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行二路三号
IPC主分类号
H01L213065
IPC分类号
H01L213213 H01L2128
代理机构
上海专利商标事务所
代理人
任永武
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
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形成多晶硅的方法 [P]. 
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[4]
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[5]
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[6]
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[9]
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