衰减全反射红外测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510873304.3

申请日：

2015-12-01

公开(公告)号：

CN105527253B

公开(公告)日：

2016-04-27

发明(设计)人：

王小兵

申请人：

申请人地址：

523808 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业西路5号

IPC主分类号：

G01N21552

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

张海英;林波

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-27	公开	公开
2018-05-04	授权	授权
2016-05-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101662096832 IPC(主分类):G01N 21/552 专利申请号:2015108733043 申请日:20151201

共 50 条

[1]

衰减全反射红外测试装置 [P].

王小兵 .

中国专利 :CN205262955U ,2016-05-25

[2]

红外衰减全反射测量系统 [P].

赫伯特·L·伯曼 ;

杰弗里·N·罗 .

中国专利 :CN1555242A ,2004-12-15

[3]

衰减全反射测试装置 [P].

陈晓汀 .

中国专利 :CN201041545Y ,2008-03-26

[4]

衰减全反射探头 [P].

廖建敏 ;

柴欣生 ;

吴湘柠 ;

李永成 .

中国专利 :CN203275276U ,2013-11-06

[5]

衰减全反射红外光谱测试用样品固定工具及测试方法 [P].

申全军 ;

王林 ;

樊亮 ;

杨耀辉 ;

李利 ;

魏慧 ;

马士杰 ;

林江涛 ;

李永振 ;

张岩 ;

毕飞 ;

梁皓 ;

周圣杰 ;

姜峰 ;

徐海峰 ;

朱兴兴 .

中国专利 :CN115326712B ,2025-06-03

[6]

衰减全反射红外光谱测试用样品固定工具及测试方法 [P].

申全军 ;

王林 ;

樊亮 ;

杨耀辉 ;

李利 ;

魏慧 ;

马士杰 ;

林江涛 ;

李永振 ;

张岩 ;

毕飞 ;

梁皓 ;

周圣杰 ;

姜峰 ;

徐海峰 ;

朱兴兴 .

中国专利 :CN115326712A ,2022-11-11

[7]

一种衰减全反射红外测试附件的清洗装置 [P].

徐学刚 ;

程颖 .

中国专利 :CN210847530U ,2020-06-26

[8]

一种衰减全反射红外测试附件的清洗装置 [P].

王威 ;

马德崇 ;

樊长昕 ;

马芳 ;

张雅琴 ;

杨素霞 .

中国专利 :CN206199785U ,2017-05-31

[9]

太赫兹衰减全反射探头 [P].

刘锋 ;

劳力 ;

刘金鸽 .

中国专利 :CN308918780S ,2024-11-01

[10]

衰减全反射传感器 [P].

K－D·安德斯 ;

M·哈勒尔 .

中国专利 :CN101324522A ,2008-12-17

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