扫描链测试数字逻辑芯片方法、系统及电子设备

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申请号
CN202210917281.1
申请日
2022-08-01
公开(公告)号
CN114999562A
公开(公告)日
2022-09-02
发明(设计)人
王庚 杨伟鹏
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋(万科云城三期C区八栋)A座3104房研发用房
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
唐慧
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
数字芯片扫描链测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN111337820A ,2020-06-26
[2]
芯片扫描链测试方法和系统 [P]. 
罗许喜 ;
徐红如 ;
刘楷 .
中国专利 :CN111220900A ,2020-06-02
[3]
一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
成学娇 ;
林耀坤 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN117517938A ,2024-02-06
[4]
一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
成学娇 ;
林耀坤 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN117517938B ,2024-09-24
[5]
芯片、芯片测试系统、方法及电子设备 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120994483A ,2025-11-21
[6]
扫描测试电路、数字芯片、电子设备及功耗降低方法 [P]. 
曾辉 ;
张心标 .
中国专利 :CN117686879A ,2024-03-12
[7]
逻辑芯片、逻辑控制系统以及电子设备 [P]. 
陈旭 .
中国专利 :CN117669442A ,2024-03-08
[8]
测试系统、测试方法、芯片及电子设备 [P]. 
陈立志 .
中国专利 :CN119716462A ,2025-03-28
[9]
扫描链电路及其扫描方法、芯片、电子设备和存储介质 [P]. 
王鹏 ;
李瑛 ;
王永栋 .
中国专利 :CN120762982B ,2025-11-18
[10]
扫描链电路及其扫描方法、芯片、电子设备和存储介质 [P]. 
王鹏 ;
李瑛 ;
王永栋 .
中国专利 :CN120762982A ,2025-10-10