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测试数据生成方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
申请号：
CN202211151560.8
申请日：
2022-09-21
公开(公告)号：
CN115495353A
公开(公告)日：
2022-12-20
发明(设计)人：
王闪闪
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市罗湖区深南东路5047号
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人：
王新哲
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2023-01-03 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220921
2022-12-20 公开 公开
共 50 条
[1]
测试数据生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
吴蓉 .
中国专利 :CN110502425A ,2019-11-26
[2]
测试数据生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
于夕涵 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
章倩 ;
常立志 ;
周永恒 ;
周丹 ;
刘杨 ;
曹雅丽 .
中国专利 :CN117632756A ,2024-03-01
[3]
测试数据生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
邹权臣 ;
刘昭 ;
王旋 ;
于恬 ;
张德岳 ;
于泓凯 ;
杨东东 ;
韩东 ;
徐昌凯 .
中国专利 :CN118194291A ,2024-06-14
[4]
测试数据生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
于岚 .
中国专利 :CN115357482A ,2022-11-18
[5]
测试数据生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张治涛 ;
刘跃 ;
张璐 ;
杨欢欢 ;
金勇 .
中国专利 :CN119807500A ,2025-04-11
[6]
测试数据生成方法、装置及电子设备、存储介质 [P]. 
艾山邱 ;
杨林 ;
杨叶 ;
李文晶 ;
邓晓青 .
中国专利 :CN119441022A ,2025-02-14
[7]
测试数据生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
于岚 .
中国专利 :CN115357482B ,2025-07-18
[8]
测试数据生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王思虹 ;
刘珍珍 .
中国专利 :CN109815122A ,2019-05-28
[9]
测试数据生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
邹权臣 ;
刘昭 ;
王旋 ;
于恬 ;
张德岳 ;
于泓凯 ;
杨东东 ;
韩东 ;
徐昌凯 .
中国专利 :CN118194291B ,2025-02-28
[10]
测试数据生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张兆华 ;
肖伟 ;
王虹 ;
张冉 ;
吴忧 .
中国专利 :CN119514163A ,2025-02-25
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