探头式比色测量仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200620121185.2

申请日：

2006-07-25

公开(公告)号：

CN2935130Y

公开(公告)日：

2007-08-15

发明(设计)人：

边东福路广志

申请人：

申请人地址：

100094北京市5133信箱

IPC主分类号：

G01N2125

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：

孙长龙

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-24	专利权的终止	专利权有效期届满号牌文件类型代码:1611 号牌文件序号:101676317348 IPC(主分类):G01N 21/25 专利号:ZL2006201211852 申请日:20060725 授权公告日:20070815 终止日期:无
2007-08-15	授权	授权

共 50 条

[1]

比色计比色光能谱测量仪 [P].

张守明 .

中国专利 :CN203519166U ,2014-04-02

[2]

多镜头式影像测量仪 [P].

巫孟良 ;

郭宗训 ;

陈彬 ;

吴文聪 .

中国专利 :CN207963762U ,2018-10-12

[3]

磁场测量仪探头 [P].

肖锐 ;

宋婵娟 .

中国专利 :CN308746181S ,2024-07-23

[4]

多探头辐射测量仪 [P].

邓长明 ;

杜向阳 ;

任熠 ;

白宁 ;

程昶 ;

张世让 ;

侯磊 ;

孟丹 ;

刘芸 ;

张佳 ;

王志刚 ;

郭强 .

中国专利 :CN301335866S ,2010-09-01

[5]

光速测量仪 [P].

彭志平 ;

彭旸 .

中国专利 :CN203443673U ,2014-02-19

[6]

王正奇 .

中国专利 :CN202994150U ,2013-06-12

[7]

石洋 ;

王含 ;

朱宝成 .

中国专利 :CN207832100U ,2018-09-07

[8]

熊谷薰 ;

大佛一毅 ;

穴井哲治 ;

大友文夫 .

中国专利 :CN103162674B ,2013-06-19

[9]

孙中武 .

中国专利 :CN201755229U ,2011-03-09

[10]

李浩 .

中国专利 :CN205537466U ,2016-08-31

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