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一种用于快速检测残影的液晶模组检测装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020509523.X
申请日：
2020-04-09
公开(公告)号：
CN212135098U
公开(公告)日：
2020-12-11
发明(设计)人：
何卜岁
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮第四工业区田富路26号
IPC主分类号：
G02F113
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-12-11 | 授权 | 授权 |