电子锁测试方法、测试系统、测试装置、设备和介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110335946.3
申请日
2021-03-29
公开(公告)号
CN113064012A
公开(公告)日
2021-07-02
发明(设计)人
唐耀威 郑文和 张运贵
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市坪山新区坪山出口加工区兰竹西路8号
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
G01M1300
代理机构
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325
代理人
谭果林
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
电子锁测试方法、测试系统、测试装置、设备和介质 [P]. 
唐耀威 ;
郑文和 ;
张运贵 .
中国专利 :CN113064012B ,2024-06-18
[2]
电子锁测试装置及系统 [P]. 
张泽 .
中国专利 :CN205038057U ,2016-02-17
[3]
电子锁测试装置及系统 [P]. 
张泽 .
中国专利 :CN105067367A ,2015-11-18
[4]
一种电子锁测试系统 [P]. 
唐耀威 ;
郑文和 ;
张运贵 .
中国专利 :CN215866905U ,2022-02-18
[5]
电子锁的测试装置及系统 [P]. 
张泽 .
中国专利 :CN204855174U ,2015-12-09
[6]
电子锁的测试装置及系统 [P]. 
张泽 .
中国专利 :CN105067362B ,2015-11-18
[7]
测试装置和测试系统 [P]. 
李艳坤 ;
王笃志 ;
郭立新 ;
任少滕 .
中国专利 :CN223284242U ,2025-08-29
[8]
测试装置和测试系统 [P]. 
范磊 ;
赵海迪 ;
聂小溪 .
中国专利 :CN118972546A ,2024-11-15
[9]
测试装置和测试系统 [P]. 
马建国 ;
周绍华 .
中国专利 :CN118671455A ,2024-09-20
[10]
电子锁锁体测试设备 [P]. 
林新达 ;
李永权 .
中国专利 :CN212111612U ,2020-12-08