一种基于零样本学习的工业外观缺陷检测方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110487504.0

申请日：

2021-05-06

公开(公告)号：

CN113112497A

公开(公告)日：

2021-07-13

发明(设计)人：

令狐彬胡炳彰许鹏周璠张鲜顺卞哲汪少成

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区长江西路687号拓基城市广场金座B423-428

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06N304 G06N308

代理机构：

温州市品创专利商标代理事务所(普通合伙) 33247

代理人：

吴海云

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-13	公开	公开
2021-08-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210506

共 50 条

[1]

一种基于零样本学习的工业外观缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

令狐彬 ;

胡炳彰 ;

许鹏 ;

周璠 ;

张鲜顺 ;

卞哲 ;

汪少成 .

中国专利 :CN113112497B ,2024-06-07

[2]

基于提示学习的零样本缺陷检测方法及缺陷检测设备 [P].

肖继民 ;

王月鑫 ;

王晓阳 ;

王晓磊 ;

杨侃龙 ;

俞思悦 .

中国专利 :CN119168954A ,2024-12-20

[3]

工业样本缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈壹华 ;

陈榕榕 ;

徐芳 ;

曾易文浩 ;

杨明樟 .

中国专利 :CN118333946A ,2024-07-12

[4]

基于视觉增强的零样本工业缺陷检测方法、设备及介质 [P].

徐震 ;

吴斯 ;

蒋乐 .

中国专利 :CN120672663A ,2025-09-19

[5]

基于文本引导的零样本工业缺陷检测方法、设备及介质 [P].

蒋乐 ;

徐震 ;

黄艳 ;

吴斯 .

中国专利 :CN119784670A ,2025-04-08

[6]

基于文本引导的零样本工业缺陷检测方法、设备及介质 [P].

蒋乐 ;

徐震 ;

黄艳 ;

吴斯 .

中国专利 :CN119784670B ,2025-09-30

[7]

一种外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

冉祥 ;

张宇 ;

陈小川 ;

刘欣冉 ;

邓志伟 .

中国专利 :CN116777859B ,2024-08-30

[8]

零样本学习的图像分类方法、装置及电子设备 [P].

郭冠军 .

中国专利 :CN111738316A ,2020-10-02

[9]

零样本学习的图像分类方法、装置及电子设备 [P].

郭冠军 .

中国专利 :CN111738316B ,2024-02-02

[10]

一种面板零样本缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN119399519A ,2025-02-07

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