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一种光学检测设备
被引:0
申请号
:
CN202121999837.3
申请日
:
2021-08-24
公开(公告)号
:
CN216247731U
公开(公告)日
:
2022-04-08
发明(设计)人
:
柴新玉
肖治祥
朱涛
申请人
:
申请人地址
:
215124 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道淞苇路668号
IPC主分类号
:
G01N2195
IPC分类号
:
G01N2101
G01N2115
G01S1708
代理机构
:
江苏坤象律师事务所 32393
代理人
:
赵新民
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-08
授权
授权
共 50 条
[1]
一种光学检测设备
[P].
尹俊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
旭点智能装备(苏州)有限公司
旭点智能装备(苏州)有限公司
尹俊
;
汪高明
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
旭点智能装备(苏州)有限公司
旭点智能装备(苏州)有限公司
汪高明
.
中国专利
:CN221174410U
,2024-06-18
[2]
一种光学检测设备
[P].
张方德
论文数:
0
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0
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0
张方德
;
邵和兴
论文数:
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0
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0
邵和兴
.
中国专利
:CN205067372U
,2016-03-02
[3]
一种光学检测设备
[P].
金燕
论文数:
0
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0
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0
金燕
.
中国专利
:CN208043684U
,2018-11-02
[4]
一种AOI光学检测设备
[P].
胡雪杰
论文数:
0
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0
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0
胡雪杰
.
中国专利
:CN210427373U
,2020-04-28
[5]
一种用于光学检测设备的多功能载具、光学检测设备
[P].
郑浩
论文数:
0
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0
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0
郑浩
.
中国专利
:CN210981305U
,2020-07-10
[6]
光学检测设备
[P].
周翔
论文数:
0
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0
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周翔
;
丁晓华
论文数:
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丁晓华
;
张昕阳
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0
张昕阳
.
中国专利
:CN206020294U
,2017-03-15
[7]
一种半导体光学检测设备
[P].
吴卫红
论文数:
0
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0
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0
吴卫红
.
中国专利
:CN218121739U
,2022-12-23
[8]
一种磁钢用光学检测设备
[P].
李明高
论文数:
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0
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机构:
浙江普菲特磁业有限公司
浙江普菲特磁业有限公司
李明高
;
周超群
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机构:
浙江普菲特磁业有限公司
浙江普菲特磁业有限公司
周超群
;
李利民
论文数:
0
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0
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0
机构:
浙江普菲特磁业有限公司
浙江普菲特磁业有限公司
李利民
.
中国专利
:CN220862074U
,2024-04-30
[9]
一种新型的光学检测设备
[P].
唐柽
论文数:
0
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0
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唐柽
;
张祖宪
论文数:
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0
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0
张祖宪
.
中国专利
:CN205655823U
,2016-10-19
[10]
一种芯片支架光学检测设备
[P].
赖勉力
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赖勉力
;
汪利军
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汪利军
.
中国专利
:CN216117375U
,2022-03-22
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