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有源近场复合探头、探测装置及探头的校准方法
被引:0
申请号
:
CN202210573694.2
申请日
:
2022-05-25
公开(公告)号
:
CN115060982A
公开(公告)日
:
2022-09-16
发明(设计)人
:
邵伟恒
易志强
方文啸
黄云
路国光
申请人
:
申请人地址
:
511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
IPC主分类号
:
G01R2908
IPC分类号
:
G01R3500
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
熊文杰
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-10-04
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 29/08 申请日:20220525
2022-09-16
公开
公开
共 50 条
[1]
近场探头以及近场探测装置
[P].
刘吉平
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
刘吉平
;
代丞
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
代丞
;
易志强
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
易志强
;
王翔
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
王翔
;
郑增忠
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0
机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
郑增忠
.
中国专利
:CN117554710A
,2024-02-13
[2]
用于电磁场近场探测的复合探头
[P].
李明远
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李明远
;
郝春华
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郝春华
.
中国专利
:CN218470861U
,2023-02-10
[3]
近场探头以及近场探测装置
[P].
刘吉平
论文数:
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
刘吉平
;
代丞
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
代丞
;
易志强
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
易志强
;
王翔
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
王翔
;
郑增忠
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机构:
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
深圳市航顺芯片技术研发有限公司
郑增忠
.
中国专利
:CN117929862A
,2024-04-26
[4]
用于电磁场近场探测的复合探头
[P].
郑伟
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0
郑伟
;
肖珂
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肖珂
;
李寅生
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0
李寅生
.
中国专利
:CN212568960U
,2021-02-19
[5]
射频探头校准方法及校准装置
[P].
高昊
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高昊
;
林德焱
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林德焱
;
余良英
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余良英
;
杨乐群
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杨乐群
;
刘立明
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刘立明
.
中国专利
:CN113189531A
,2021-07-30
[6]
射频探头校准方法及校准装置
[P].
高昊
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机构:
武汉碧海云天科技股份有限公司
武汉碧海云天科技股份有限公司
高昊
;
林德焱
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机构:
武汉碧海云天科技股份有限公司
武汉碧海云天科技股份有限公司
林德焱
;
余良英
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机构:
武汉碧海云天科技股份有限公司
武汉碧海云天科技股份有限公司
余良英
;
杨乐群
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机构:
武汉碧海云天科技股份有限公司
武汉碧海云天科技股份有限公司
杨乐群
;
刘立明
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机构:
武汉碧海云天科技股份有限公司
武汉碧海云天科技股份有限公司
刘立明
.
中国专利
:CN113189531B
,2025-03-21
[7]
探测模块及探头
[P].
邵伟恒
论文数:
0
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邵伟恒
;
方文啸
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方文啸
;
恩云飞
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恩云飞
;
黄云
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黄云
;
王磊
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王磊
;
邵鄂
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邵鄂
;
曹胜
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曹胜
.
中国专利
:CN110095656B
,2019-08-06
[8]
电磁场复合探头和探测系统
[P].
黄权
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黄权
;
邵伟恒
论文数:
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0
邵伟恒
;
方文啸
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方文啸
;
王磊
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王磊
;
黄云
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黄云
;
路国光
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路国光
;
王雨晨
论文数:
0
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王雨晨
.
中国专利
:CN112526221A
,2021-03-19
[9]
一种有源磁场探头及有源磁场探测系统
[P].
邵伟恒
论文数:
0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
邵伟恒
;
李辉
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李辉
;
田欣欣
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
田欣欣
;
吴多龙
论文数:
0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
吴多龙
;
阮黎涛
论文数:
0
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0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
阮黎涛
;
薛姗
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
薛姗
.
中国专利
:CN120490923A
,2025-08-15
[10]
探头探测装置
[P].
万勇
论文数:
0
引用数:
0
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0
万勇
.
中国专利
:CN216998833U
,2022-07-19
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