光电检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200480042132.5

申请日：

2004-02-25

公开(公告)号：

CN1922732A

公开(公告)日：

2007-02-28

发明(设计)人：

弗雷德里克·迪蓬特兰·凯雷富克

申请人：

申请人地址：

法国贝尔南

IPC主分类号：

H01L27146

IPC分类号：

H01L31028 H01L310368 H01L3118

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：

杨生平;杨红梅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-04-25	实质审查的生效	实质审查的生效
2021-01-22	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):H01L 27/146 登记生效日:20210111 变更事项:专利权人变更前权利人:索泰克公司变更后权利人:索尼半导体解决方案公司变更事项:地址变更前权利人:法国贝尔南变更后权利人:日本神奈川县
2010-06-09	授权	授权
2007-02-28	公开	公开
2020-06-16	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/146 变更事项:专利权人变更前:S.O.I.TEC绝缘体上硅技术公司变更后:索泰克公司变更事项:地址变更前:法国贝尔南变更后:法国贝尔南

共 50 条

[1]

光电检测装置和光电检测装置的制造方法 [P].

江尻洋一 ;

熊谷隼人 ;

津川英信 ;

中邑良一 ;

田代睦聡 ;

藤崎裕太郎 .

日本专利 :CN118575286A ,2024-08-30

[2]

光电检测装置 [P].

下谷隆雄 ;

鹤田捗 .

中国专利 :CN85101204A ,1987-01-24

[3]

光电检测结构及其制作方法、光电检测装置 [P].

李东升 ;

吴慧利 ;

孙建明 ;

任庆荣 ;

李士佩 ;

孙雪菲 .

中国专利 :CN108279028B ,2018-07-13

[4]

光电检测装置、电子设备和光电检测系统 [P].

富樫秀晃 ;

大久保智弘 ;

河合信宏 ;

津野仁志 ;

田村崇人 ;

高田哲朗 .

日本专利 :CN118120058A ,2024-05-31

[5]

光电检测电路和光电检测装置 [P].

郑智仁 ;

丁小梁 ;

王鹏鹏 ;

曹学友 ;

贾亚楠 ;

刘伟 ;

韩艳玲 ;

张平 .

中国专利 :CN108204859A ,2018-06-26

[6]

一种光电检测器件、光电检测装置 [P].

马占洁 .

中国专利 :CN106299012B ,2017-01-04

[7]

光电检测装置和光电检测方法 [P].

朱时成 ;

蒯多杰 ;

朱良辰 .

中国专利 :CN116087224B ,2025-12-26

[8]

光电检测装置 [P].

秦绪阳 ;

于浩 ;

郑钢 .

中国专利 :CN104568761A ,2015-04-29

[9]

光电检测装置 [P].

姚福立 ;

唐灿 .

中国专利 :CN208297534U ,2018-12-28

[10]

光电检测装置 [P].

官冠 ;

冷斌 ;

贺庆 ;

胡欢 ;

蒋东国 .

中国专利 :CN303238451S ,2015-06-10

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