一种单片压敏电阻阀片内部的电流分布均匀性测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201310269347.1
申请日
2013-06-28
公开(公告)号
CN103353563A
公开(公告)日
2013-10-16
发明(设计)人
何金良 胡军 程晨璐 曾嵘 张波 余占清
申请人
申请人地址
100084 北京市海淀区清华园1号
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
G01R1900
代理机构
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
罗文群
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
宽温度范围压敏电阻阀片内部电流分布均匀性测试方法 [P]. 
何金良 ;
胡军 ;
程晨璐 ;
曾嵘 ;
张波 ;
余占清 .
中国专利 :CN105510683A ,2016-04-20
[2]
一种基于对ZnO压敏电阻电流均匀性分布的表征方法 [P]. 
李盛涛 ;
郭齐睿 ;
张磊 ;
王智 ;
孔凡一 ;
刘文凤 .
中国专利 :CN111141973A ,2020-05-12
[3]
一种测试氧化锌压敏电阻阀片电流分布的装置 [P]. 
何金良 ;
孟鹏飞 ;
胡军 ;
谢清云 ;
李刚 ;
胡小定 ;
杨丹 .
中国专利 :CN106683811A ,2017-05-17
[4]
一种测试避雷器用ZnO压敏电阻片径向电流分布的装置 [P]. 
何金良 ;
孟鹏飞 ;
胡军 ;
谢清云 ;
李刚 ;
胡小定 ;
杨丹 .
中国专利 :CN109932553A ,2019-06-25
[5]
基于红外热成像原理测试压敏电阻电流分布的装置 [P]. 
何金良 ;
孟鹏飞 ;
谢清云 ;
胡军 ;
李刚 ;
蒙小记 .
中国专利 :CN106771548A ,2017-05-31
[6]
一种氧化锌压敏电阻单晶界冲击老化特性的测试方法 [P]. 
何金良 ;
刘俊 ;
曾嵘 ;
胡军 ;
龙望成 ;
雒凤超 .
中国专利 :CN101858946B ,2010-10-13
[7]
一种电阻片柱并联电流分布测试方法 [P]. 
何计谋 ;
谢清云 ;
祝嘉喜 ;
张宏涛 .
中国专利 :CN105425018A ,2016-03-23
[8]
一种并联电阻片柱电流分布方法 [P]. 
何计谋 ;
祝嘉喜 ;
张宏涛 .
中国专利 :CN108120890B ,2018-06-05
[9]
一种ZnO压敏电阻片的成型助剂、ZnO压敏电阻片以及ZnO压敏电阻片的制备方法 [P]. 
石凯 ;
刘代科 ;
缪奎 ;
马苗 .
中国专利 :CN117586002B ,2025-08-01
[10]
一种ZnO压敏电阻片的成型助剂、ZnO压敏电阻片以及ZnO压敏电阻片的制备方法 [P]. 
石凯 ;
刘代科 ;
缪奎 ;
马苗 .
中国专利 :CN117586002A ,2024-02-23