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老化测试治具
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN202130410570.9
申请日
:
2021-06-30
公开(公告)号
:
CN306933335S
公开(公告)日
:
2021-11-12
发明(设计)人
:
不公告设计人
申请人
:
申请人地址
:
516000 广东省惠州市惠城区马安镇新鹏路4号
IPC主分类号
:
1005
IPC分类号
:
代理机构
:
广东创合知识产权代理有限公司 44690
代理人
:
潘丽君;任海燕
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-12
授权
授权
共 50 条
[1]
老化测试治具
[P].
邵继铭
论文数:
0
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邵继铭
;
刘坚辉
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刘坚辉
;
胡盛俊
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胡盛俊
.
中国专利
:CN202093107U
,2011-12-28
[2]
存储芯片老化测试治具
[P].
杨磊
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0
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机构:
深圳米客方德半导体有限公司
深圳米客方德半导体有限公司
杨磊
;
黄栋科
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机构:
深圳米客方德半导体有限公司
深圳米客方德半导体有限公司
黄栋科
.
中国专利
:CN309245038S
,2025-04-18
[3]
LCM模组老化测试治具
[P].
卢永强
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卢永强
;
刘烨
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刘烨
.
中国专利
:CN203397045U
,2014-01-15
[4]
LED电源老化测试治具
[P].
许晶
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许晶
;
陈隆海
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陈隆海
.
中国专利
:CN204228930U
,2015-03-25
[5]
LED电源老化测试治具
[P].
许晶
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许晶
;
陈隆海
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陈隆海
.
中国专利
:CN105467330A
,2016-04-06
[6]
灯带老化测试治具
[P].
王鹏辉
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王鹏辉
;
刘昊岩
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刘昊岩
.
中国专利
:CN111948523A
,2020-11-17
[7]
灯带老化测试治具
[P].
王鹏辉
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机构:
惠州市欣上科技有限公司
惠州市欣上科技有限公司
王鹏辉
;
刘昊岩
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机构:
惠州市欣上科技有限公司
惠州市欣上科技有限公司
刘昊岩
.
中国专利
:CN111948523B
,2025-12-19
[8]
灯带老化测试治具
[P].
王鹏辉
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王鹏辉
;
刘昊岩
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刘昊岩
.
中国专利
:CN212540632U
,2021-02-12
[9]
老化测试用治具及老化测试装置
[P].
梁远文
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机构:
深圳市鼎泰佳创科技有限公司
深圳市鼎泰佳创科技有限公司
梁远文
.
中国专利
:CN221612957U
,2024-08-27
[10]
老化治具
[P].
魏文浩
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魏文浩
;
吕宇轩
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吕宇轩
;
赖永康
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赖永康
;
梅健
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梅健
;
冯慈铵
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冯慈铵
;
黄嘉荣
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黄嘉荣
;
陈炳红
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陈炳红
;
王伟
论文数:
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王伟
.
中国专利
:CN216351052U
,2022-04-19
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