老化测试治具

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN202130410570.9
申请日
2021-06-30
公开(公告)号
CN306933335S
公开(公告)日
2021-11-12
发明(设计)人
不公告设计人
申请人
申请人地址
516000 广东省惠州市惠城区马安镇新鹏路4号
IPC主分类号
1005
IPC分类号
代理机构
广东创合知识产权代理有限公司 44690
代理人
潘丽君;任海燕
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
老化测试治具 [P]. 
邵继铭 ;
刘坚辉 ;
胡盛俊 .
中国专利 :CN202093107U ,2011-12-28
[2]
存储芯片老化测试治具 [P]. 
杨磊 ;
黄栋科 .
中国专利 :CN309245038S ,2025-04-18
[3]
LCM模组老化测试治具 [P]. 
卢永强 ;
刘烨 .
中国专利 :CN203397045U ,2014-01-15
[4]
LED电源老化测试治具 [P]. 
许晶 ;
陈隆海 .
中国专利 :CN204228930U ,2015-03-25
[5]
LED电源老化测试治具 [P]. 
许晶 ;
陈隆海 .
中国专利 :CN105467330A ,2016-04-06
[6]
灯带老化测试治具 [P]. 
王鹏辉 ;
刘昊岩 .
中国专利 :CN111948523A ,2020-11-17
[7]
灯带老化测试治具 [P]. 
王鹏辉 ;
刘昊岩 .
中国专利 :CN111948523B ,2025-12-19
[8]
灯带老化测试治具 [P]. 
王鹏辉 ;
刘昊岩 .
中国专利 :CN212540632U ,2021-02-12
[9]
老化测试用治具及老化测试装置 [P]. 
梁远文 .
中国专利 :CN221612957U ,2024-08-27
[10]
老化治具 [P]. 
魏文浩 ;
吕宇轩 ;
赖永康 ;
梅健 ;
冯慈铵 ;
黄嘉荣 ;
陈炳红 ;
王伟 .
中国专利 :CN216351052U ,2022-04-19