氢同位素气和/或氦气中微量杂质含量的分析装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711390218.2

申请日：

2017-12-21

公开(公告)号：

CN108020612A

公开(公告)日：

2018-05-11

发明(设计)人：

祝刘正岳维宏吴展华任英韩国强

申请人：

申请人地址：

102413 北京市房山区新镇三强路1号院

IPC主分类号：

G01N3002

IPC分类号：

G01N3020

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-11	公开	公开
2018-06-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 30/02 申请日:20171221

共 50 条

[1]

氢同位素气和/或氦气中微量杂质含量的分析装置 [P].

祝刘正 ;

岳维宏 ;

吴展华 ;

任英 ;

韩国强 .

中国专利 :CN207689440U ,2018-08-03

[2]

一种用于分析He中氢同位素及微量杂质组分的气相色谱检测系统及方法 [P].

杨丽玲 ;

杨洪广 ;

占勤 ;

何长水 ;

刘振启 .

中国专利 :CN105572250B ,2016-05-11

[3]

浓缩氢同位素的装置和方法 [P].

达里尔·勒德洛 ;

格雷格·赫斯勒尔 ;

特伦特·莫尔特尔 .

中国专利 :CN109641179A ,2019-04-16

[4]

分析水中氢同位素的方法 [P].

李洪伟 ;

冯连君 ;

陈健 ;

李铁军 ;

韩文念 .

中国专利 :CN106769346A ,2017-05-31

[5]

一种氢同位素气体中杂质分析装置及方法 [P].

雷强华 ;

武志刚 ;

寇化秦 ;

张光辉 ;

熊义富 ;

蒋富冬 .

中国专利 :CN114544807A ,2022-05-27

[6]

氢同位素组分含量的质谱分析方法 [P].

郭炜 ;

杨洪广 ;

占勤 ;

李卓希 ;

路建新 ;

魏乐芙 ;

李曙丹 ;

姚棨临 ;

徐鹏程 ;

王羽锋 .

中国专利 :CN115308292A ,2022-11-08

[7]

氢同位素组分含量的质谱分析方法 [P].

郭炜 ;

杨洪广 ;

占勤 ;

李卓希 ;

路建新 ;

魏乐芙 ;

李曙丹 ;

姚棨临 ;

徐鹏程 ;

王羽锋 .

中国专利 :CN115308292B ,2024-09-27

[8]

氢同位素输送装置及氢同位素输送方法 [P].

小西哲之 .

日本专利 :CN119947818A ,2025-05-06

[9]

氢同位素气体分析样品室及氢同位素气体测量装置 [P].

杨洪广 ;

李卓希 ;

李语奇 ;

郭炜 ;

刘国财 ;

路建新 ;

魏乐芙 ;

占勤 ;

李曙丹 ;

姚棨临 ;

徐鹏程 ;

王羽锋 .

中国专利 :CN115326855A ,2022-11-11

[10]

氢同位素气体分析样品室及氢同位素气体测量装置 [P].

杨洪广 ;

李卓希 ;

李语奇 ;

郭炜 ;

刘国财 ;

路建新 ;

魏乐芙 ;

占勤 ;

李曙丹 ;

姚棨临 ;

徐鹏程 ;

王羽锋 .

中国专利 :CN115326855B ,2025-05-02

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