集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201521133796.4

申请日：

2015-12-30

公开(公告)号：

CN205484691U

公开(公告)日：

2016-08-17

发明(设计)人：

张立国

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区石厦北三街东南方国际广场A栋618、619

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

方高明

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20151230 授权公告日:20160817 终止日期:20181230
2016-08-17	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路测试装置和方法 [P].

张立国 .

中国专利 :CN105510803A ,2016-04-20

[2]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[3]

集成电路电气特性化测试装置 [P].

吴朋 ;

李道龙 ;

陈俭东 .

中国专利 :CN214953916U ,2021-11-30

[4]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[5]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[6]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

[7]

集成电路测试装置 [P].

刘丰 ;

吕方艳 ;

梁晓梅 ;

刘应明 .

中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26

[8]

集成电路测试装置 [P].

王国华 .

中国专利 :CN202443037U ,2012-09-19

[9]

集成电路测试装置 [P].

陈健 ;

陆人杰 .

中国专利 :CN217404469U ,2022-09-09

[10]

集成电路测试装置 [P].

陈尚立 ;

谢林庭 .

中国专利 :CN211905590U ,2020-11-10

← 1 2 3 4 5 →