一种光学传感器性能检测方法

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专利类型
发明
申请号
CN201910478198.7
申请日
2019-06-03
公开(公告)号
CN110186502A
公开(公告)日
2019-08-30
发明(设计)人
李月萍
申请人
申请人地址
314000 浙江省嘉兴市南湖区新丰镇竹林村尼龙组6号
IPC主分类号
G01D1800
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
[1]
一种传感器的性能检测装置、性能检测系统和性能检测方法 [P]. 
张永洲 ;
杨生峰 ;
孔猛 ;
刘金龙 .
中国专利 :CN120644389A ,2025-09-16
[2]
光学传感器以及光学传感器的异常检测方法 [P]. 
蓬郷典大 ;
近藤智则 ;
古川慎也 .
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[3]
一种角度传感器性能检测方法及装置 [P]. 
辜键洲 ;
帅元 ;
顾晨祥 ;
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[4]
一种光学传感器及其检测方法 [P]. 
陈伟 .
中国专利 :CN102565011A ,2012-07-11
[5]
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李骁 ;
李长征 ;
李皓 ;
阮越 .
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[6]
一种光学传感器、光学检测方法及存储介质 [P]. 
李骁 ;
李长征 ;
李皓 ;
阮越 .
中国专利 :CN117530686A ,2024-02-09
[7]
光学传感器及具有该光学传感器的光学检测装置 [P]. 
徐春广 ;
肖定国 ;
冯忠伟 ;
朱文娟 ;
郝娟 ;
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[8]
光学传感器、检测方法及用途 [P]. 
邱广宇 .
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[9]
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和贤桃 ;
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杨丽 ;
张东兴 ;
崔涛 ;
钟翔君 ;
刘江 .
中国专利 :CN113280849B ,2021-08-20
[10]
一种光学传感器的检测装置 [P]. 
张燕 ;
高云峰 .
中国专利 :CN209310835U ,2019-08-27